电离层Es的自动识别及其统计分析
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章绪论 | 第10-23页 |
| 1.1电离层概述 | 第10页 |
| 1.2电离层Es介绍 | 第10-19页 |
| 1.2.1风剪切和Es的形成 | 第11-13页 |
| 1.2.2Es类型的介绍 | 第13-19页 |
| 1.3武汉大学电离层探测系统介绍 | 第19-21页 |
| 1.3.1探测原理及WISS系统的简介 | 第19-20页 |
| 1.3.2频高图 | 第20-21页 |
| 1.4研究意义与内容安排 | 第21-23页 |
| 第二章ionoScaler自动度量Es层 | 第23-31页 |
| 2.1ionoScaler软件介绍 | 第23-25页 |
| 2.1.1软件功能 | 第23-25页 |
| 2.1.2软件应用 | 第25页 |
| 2.2自动度量Es方法介绍 | 第25-26页 |
| 2.3自动度量Es结果分析 | 第26-30页 |
| 2.3.1结果分析 | 第26-29页 |
| 2.3.2误差分析 | 第29-30页 |
| 2.4小结 | 第30-31页 |
| 第三章频高图Es二跳回波自动识别 | 第31-42页 |
| 3.1频高图Es层特征介绍 | 第31-32页 |
| 3.2频高图Es二跳回波自动识别方法 | 第32-38页 |
| 3.2.1频高图预处理 | 第32-34页 |
| 3.2.2构建决策树 | 第34-38页 |
| 3.3Es二跳回波自动识别结果分析 | 第38-41页 |
| 3.3.1Es多跳识别的准确性 | 第38-39页 |
| 3.3.2识别准确性的结果分析 | 第39-41页 |
| 3.4小结 | 第41-42页 |
| 第四章Es回波对F层自动度量的影响 | 第42-49页 |
| 4.1自动度量F层方法介绍 | 第42-43页 |
| 4.2Es二跳对F层度量的影响 | 第43-44页 |
| 4.3度量结果分析 | 第44-48页 |
| 4.4小结 | 第48-49页 |
| 第五章普洱站Es的统计分析 | 第49-63页 |
| 5.1普洱站测高仪介绍 | 第49-50页 |
| 5.2Es整体分布 | 第50-54页 |
| 5.2.1Es临界频率 | 第50-52页 |
| 5.2.2Es层虚高 | 第52-54页 |
| 5.3日变化 | 第54-56页 |
| 5.4季节变化 | 第56-57页 |
| 5.5机制讨论 | 第57-61页 |
| 5.5.1普洱站Es的地方时分布原因 | 第57-58页 |
| 5.5.2普洱站Es的季节分布原因 | 第58页 |
| 5.5.3普洱站Es的太阳活动相关性 | 第58-60页 |
| 5.5.4普洱站Es的大气波动特征 | 第60-61页 |
| 5.6小结 | 第61-63页 |
| 第六章总结和展望 | 第63-65页 |
| 6.1总结 | 第63-64页 |
| 6.2展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 攻读硕士学位期间的科研成果 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
