非圆零件旋压用嵌入式系统精度细分模块的开发
| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-23页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·嵌入式数控旋压设备研究现状 | 第13-16页 |
| ·嵌入式数控系统研究现状 | 第16-19页 |
| ·嵌入式数控系统的特点 | 第16-18页 |
| ·现场可编程门阵列FPGA 概述 | 第18-19页 |
| ·精度细分电路在嵌入式系统中的应用 | 第19-20页 |
| ·课题的背景、目的及意义 | 第20-21页 |
| ·课题研究内容 | 第21-23页 |
| 第二章 非圆零件旋压控制方案设计 | 第23-38页 |
| ·引言 | 第23-24页 |
| ·基于离散点的非圆截面控制方案 | 第24-31页 |
| ·非圆截面轮廓轨迹拟合方法 | 第24-27页 |
| ·非圆截面加工控制方式 | 第27-31页 |
| ·嵌入式控制系统精度细分电路架构 | 第31-33页 |
| ·基于QuartusII 软件的器件测试平台 | 第33-36页 |
| ·VHDL 硬件编程语言的应用 | 第33-34页 |
| ·QuartusII 设计软件概述 | 第34-35页 |
| ·器件测试平台的设计与搭建 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 第三章 可控数字变频电路设计 | 第38-53页 |
| ·引言 | 第38页 |
| ·可控数字变频电路的软件算法设计 | 第38-43页 |
| ·电路参数优化算法研究 | 第38-39页 |
| ·三边圆弧形形零件截面轮廓实例计算 | 第39-41页 |
| ·数据分析 | 第41-43页 |
| ·可控数字变频电路的硬件设计 | 第43-48页 |
| ·可控数字变频电路的架构 | 第43页 |
| ·锁相倍频电路模块设计 | 第43-45页 |
| ·任意数分频电路模块设计 | 第45-48页 |
| ·电路波形测试与验证 | 第48-51页 |
| ·锁相倍频电路波形测试 | 第48-49页 |
| ·分频电路波形测试 | 第49-51页 |
| ·可控数字变频电路整体波形测试 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第四章 FIFO 结构的高速大容量缓冲存储器设计 | 第53-70页 |
| ·引言 | 第53-54页 |
| ·FIFO 缓冲存储器的硬件设计 | 第54-56页 |
| ·FIFO 整体架构 | 第54-55页 |
| ·器件选用 | 第55-56页 |
| ·FIFO 缓冲存储器的软件模块设计 | 第56-63页 |
| ·FPGA 嵌入式内核架构 | 第56-57页 |
| ·存储地址产生模块 | 第57-58页 |
| ·内部读写请求产生模块 | 第58-59页 |
| ·数据读/写模块 | 第59-61页 |
| ·空满标志产生模块 | 第61-63页 |
| ·FIFO 缓冲存储器的亚稳态效应及解决方案 | 第63-65页 |
| ·亚稳态的产生原因 | 第63-64页 |
| ·地址数据Gray 编码方案 | 第64-65页 |
| ·电路波形测试与验证 | 第65-69页 |
| ·FIFO 读写时序测试 | 第65-67页 |
| ·亚稳态效应时序测试 | 第67-68页 |
| ·FIFO 整体性能测试 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第五章 PISO 误差校正电路设计 | 第70-83页 |
| ·引言 | 第70-71页 |
| ·精度校正工作原理 | 第71-73页 |
| ·PISO 误差校正电路硬件设计 | 第73-75页 |
| ·电路波形测试 | 第75-76页 |
| ·试验研究 | 第76-81页 |
| ·试验平台的组成 | 第77-79页 |
| ·试验方案 | 第79页 |
| ·试验结果分析 | 第79-81页 |
| ·本章小结 | 第81-83页 |
| 结论与展望 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-88页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第88-89页 |
| 致谢 | 第89页 |
