| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 电晕放电检测方法 | 第10-13页 |
| 1.3 紫外检测技术国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.4 论文研究内容及结构 | 第14-16页 |
| 第二章 电晕放电理论与特性 | 第16-26页 |
| 2.1 气体放电基本理论 | 第16-18页 |
| 2.1.1 汤逊气体放电理论 | 第17页 |
| 2.1.2 流注放电理论 | 第17-18页 |
| 2.2 电晕放电基本物理过程 | 第18-19页 |
| 2.3 电晕放电机理 | 第19-21页 |
| 2.4 电晕放电影响因素 | 第21-23页 |
| 2.4.1 气压对电晕放电的影响 | 第21-22页 |
| 2.4.2 空气湿度对电晕放电的影响 | 第22-23页 |
| 2.5 电晕放电光辐射的光谱分析 | 第23-24页 |
| 2.6 本章小结 | 第24-26页 |
| 第三章 紫外辐射及紫外检测技术研究 | 第26-34页 |
| 3.1 紫外辐射传播原理 | 第26-28页 |
| 3.2 紫外辐射测量方法 | 第28-29页 |
| 3.2.1 紫外脉冲法 | 第28页 |
| 3.2.2 紫外光功率法 | 第28-29页 |
| 3.3 紫外成像法检测原理 | 第29-30页 |
| 3.4 紫外检测技术在绝缘子电晕放电中的应用 | 第30-33页 |
| 3.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 绝缘子表面电场紫外辐射量测仿真分析 | 第34-49页 |
| 4.1 ANSYS电磁仿真软件 | 第34-35页 |
| 4.2 绝缘子表面电场与紫外辐射场的数值关系分析 | 第35-37页 |
| 4.3 绝缘子串电场仿真分析前处理 | 第37-43页 |
| 4.3.1 有限元法求解静电场的原理 | 第37-38页 |
| 4.3.2 建立绝缘子串仿真模型 | 第38-42页 |
| 4.3.3 绝缘子串仿真模型设参 | 第42-43页 |
| 4.3.4 绝缘子串仿真模型网格划分 | 第43页 |
| 4.4 仿真计算及结果分析 | 第43-47页 |
| 4.4.1 电压分布 | 第44-45页 |
| 4.4.2 电场分布 | 第45-46页 |
| 4.4.3 紫外辐射场分布 | 第46-47页 |
| 4.4.4 紫外辐射场与电场强度的对应关系 | 第47页 |
| 4.5 本章小结 | 第47-49页 |
| 第五章 影响绝缘子电晕放电紫外检测技术因素的试验研究 | 第49-59页 |
| 5.1 试验系统与环境构建 | 第49-52页 |
| 5.2 环境因素对绝缘子电晕放电光子计数率的影响试验 | 第52-55页 |
| 5.2.1 增益对绝缘子电晕放电光子计数率的影响试验 | 第52-53页 |
| 5.2.2 检测距离对绝缘子电晕放电光子计数率的影响试验 | 第53-54页 |
| 5.2.3 试验电压对绝缘子电晕放电光子计数率的影响试验 | 第54-55页 |
| 5.3 环境因素对绝缘子电晕放电光子计数率的影响试验结果分析 | 第55-57页 |
| 5.3.1 增益对绝缘子电晕放电光子计数率的影响试验结果与分析 | 第55-56页 |
| 5.3.2 检测距离对绝缘子电晕放电光子计数率的影响试验结果与分析 | 第56-57页 |
| 5.3.3 试验电压对绝缘子电晕放电光子计数率的影响试验结果与分析 | 第57页 |
| 5.4 本章小结 | 第57-59页 |
| 第六章 结论 | 第59-61页 |
| 6.1 总结 | 第59-60页 |
| 6.2 展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读硕士期间主要研究成果 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
