RISC指令集自动化测试系统研究与设计
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
符号对照表 | 第13-14页 |
缩略语对照表 | 第14-17页 |
第一章 绪论 | 第17-21页 |
1.1 研究背景与意义 | 第17-18页 |
1.2 国内外研究现状 | 第18-19页 |
1.3 本文研究内容 | 第19-20页 |
1.4 本文组织结构 | 第20-21页 |
第二章 RISC指令集测试技术分析 | 第21-27页 |
2.1 RISC指令集研究 | 第21-23页 |
2.1.1 RISC指令集的发展 | 第21-22页 |
2.1.2 RISC指令系统的定义与特点 | 第22-23页 |
2.2 指令集测试技术研究 | 第23-25页 |
2.2.1 测试方法分析 | 第23-24页 |
2.2.2 测试代码生成方法 | 第24-25页 |
2.3 本章小结 | 第25-27页 |
第三章 RISC指令集自动化测试系统需求分析 | 第27-39页 |
3.1 RISC处理器核体系结构 | 第27-30页 |
3.1.1 RISC处理器核剖析 | 第27-28页 |
3.1.2 RISC处理器核的指令系统 | 第28-30页 |
3.2 指令集测试流程分析 | 第30-32页 |
3.3 自动化测试系统构建 | 第32-37页 |
3.3.2 测试点规划的参数约束 | 第32-34页 |
3.3.3 测试用例组成结构分析 | 第34-35页 |
3.3.4 静态编译模块分析 | 第35-36页 |
3.3.5 测试结果对比模块分析 | 第36-37页 |
3.4 本章小结 | 第37-39页 |
第四章 RISC指令集自动化测试系统设计 | 第39-67页 |
4.1 RISC指令集自动化测试系统交互界面设计 | 第39-40页 |
4.2 指令集输入数据信息交互设计 | 第40-41页 |
4.3 测试规划生成模块设计 | 第41-60页 |
4.3.1 单指令测试规划模块设计 | 第41-51页 |
4.3.2 指令相关性测试规划生成 | 第51-60页 |
4.4 测试用例生成模块设计 | 第60-63页 |
4.4.1 单指令测试用例生成 | 第60-62页 |
4.4.2 指令相关性测试用例生成 | 第62-63页 |
4.5 静态编译模块与测试报告生成模块设计 | 第63-65页 |
4.5.1 静态编译模块设计 | 第63-64页 |
4.5.2 测试报告生成模块设计 | 第64-65页 |
4.6 本章小结 | 第65-67页 |
第五章 指令集测试与系统评价 | 第67-85页 |
5.1 测试系统开发环境搭建 | 第67-68页 |
5.2 待测试平台环境分析 | 第68-70页 |
5.3 指令集测试及结果分析 | 第70-78页 |
5.3.1 单指令测试与结果分析 | 第70-76页 |
5.3.2 相关性测试与结果分析 | 第76-78页 |
5.4 系统评价 | 第78-83页 |
5.4.1 自动化测试系统的效率 | 第78页 |
5.4.2 自动化测试系统的完备性 | 第78-83页 |
5.5 本章小结 | 第83-85页 |
第六章 总结与展望 | 第85-87页 |
6.1 本文工作总结 | 第85-86页 |
6.2 后续工作展望 | 第86-87页 |
参考文献 | 第87-91页 |
致谢 | 第91-93页 |
作者简介 | 第93-94页 |