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RISC指令集自动化测试系统研究与设计

摘要第6-7页
ABSTRACT第7-8页
符号对照表第13-14页
缩略语对照表第14-17页
第一章 绪论第17-21页
    1.1 研究背景与意义第17-18页
    1.2 国内外研究现状第18-19页
    1.3 本文研究内容第19-20页
    1.4 本文组织结构第20-21页
第二章 RISC指令集测试技术分析第21-27页
    2.1 RISC指令集研究第21-23页
        2.1.1 RISC指令集的发展第21-22页
        2.1.2 RISC指令系统的定义与特点第22-23页
    2.2 指令集测试技术研究第23-25页
        2.2.1 测试方法分析第23-24页
        2.2.2 测试代码生成方法第24-25页
    2.3 本章小结第25-27页
第三章 RISC指令集自动化测试系统需求分析第27-39页
    3.1 RISC处理器核体系结构第27-30页
        3.1.1 RISC处理器核剖析第27-28页
        3.1.2 RISC处理器核的指令系统第28-30页
    3.2 指令集测试流程分析第30-32页
    3.3 自动化测试系统构建第32-37页
        3.3.2 测试点规划的参数约束第32-34页
        3.3.3 测试用例组成结构分析第34-35页
        3.3.4 静态编译模块分析第35-36页
        3.3.5 测试结果对比模块分析第36-37页
    3.4 本章小结第37-39页
第四章 RISC指令集自动化测试系统设计第39-67页
    4.1 RISC指令集自动化测试系统交互界面设计第39-40页
    4.2 指令集输入数据信息交互设计第40-41页
    4.3 测试规划生成模块设计第41-60页
        4.3.1 单指令测试规划模块设计第41-51页
        4.3.2 指令相关性测试规划生成第51-60页
    4.4 测试用例生成模块设计第60-63页
        4.4.1 单指令测试用例生成第60-62页
        4.4.2 指令相关性测试用例生成第62-63页
    4.5 静态编译模块与测试报告生成模块设计第63-65页
        4.5.1 静态编译模块设计第63-64页
        4.5.2 测试报告生成模块设计第64-65页
    4.6 本章小结第65-67页
第五章 指令集测试与系统评价第67-85页
    5.1 测试系统开发环境搭建第67-68页
    5.2 待测试平台环境分析第68-70页
    5.3 指令集测试及结果分析第70-78页
        5.3.1 单指令测试与结果分析第70-76页
        5.3.2 相关性测试与结果分析第76-78页
    5.4 系统评价第78-83页
        5.4.1 自动化测试系统的效率第78页
        5.4.2 自动化测试系统的完备性第78-83页
    5.5 本章小结第83-85页
第六章 总结与展望第85-87页
    6.1 本文工作总结第85-86页
    6.2 后续工作展望第86-87页
参考文献第87-91页
致谢第91-93页
作者简介第93-94页

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