摘要 | 第4-6页 |
abstract | 第6-7页 |
缩略词中英文对照表 | 第10-11页 |
第一章 组蛋白修饰在细胞衰老中的研究进展 | 第11-20页 |
1 细胞衰老是机体衰老的根本原因 | 第11-13页 |
2 表观遗传修饰调控概况 | 第13-16页 |
2.1 DNA甲基化修饰概述 | 第13-14页 |
2.2 RNA甲基化修饰概述 | 第14页 |
2.3 组蛋白修饰概述 | 第14-16页 |
2.3.1 组蛋白甲基化修饰 | 第15页 |
2.3.2 组蛋白乙酰化修饰 | 第15页 |
2.3.3 组蛋白泛素化和类泛素化修饰 | 第15-16页 |
3 组蛋白表观遗传调控在细胞衰老中的研究 | 第16-18页 |
3.1 在线虫衰老中的表观遗传调控研究 | 第16页 |
3.2 在果蝇衰老中的表观遗传调控研究 | 第16-17页 |
3.3 在哺乳动物衰老中的表观遗传调控研究 | 第17-18页 |
4 展望 | 第18-20页 |
第二章 人间充质干细胞体外扩增培养过程中的衰老 | 第20-49页 |
1 绪论 | 第20-21页 |
2 实验材料与溶液配制 | 第21-23页 |
2.1 主要仪器 | 第21页 |
2.2 试剂及耗材 | 第21-22页 |
2.3 细胞材料 | 第22页 |
2.4 溶液配制 | 第22-23页 |
3 实验方法 | 第23-35页 |
3.1 细胞培养 | 第23-24页 |
3.1.1 细胞复苏 | 第23页 |
3.1.2 细胞传代 | 第23-24页 |
3.1.3 细胞冻存 | 第24页 |
3.2 检测核酸水平表达量 | 第24-28页 |
3.2.1 RNA提取 | 第24-25页 |
3.2.2 逆转录RNA反应(RT-PCR) | 第25-26页 |
3.2.3 实时荧光定量PCR(RT-qPCR) | 第26-28页 |
3.3 细胞周期、克隆形成率、增殖能力和标志物CD105 的检测 | 第28-31页 |
3.3.1 细胞增殖能力检测 | 第28-29页 |
3.3.2 细胞克隆形成能力检测 | 第29页 |
3.3.3 细胞周期检测 | 第29-30页 |
3.3.4 细胞表面标志蛋白检测 | 第30-31页 |
3.4 检测蛋白水平表达量 | 第31-34页 |
3.4.1 细胞蛋白提取 | 第31页 |
3.4.2 BCA蛋白定量 | 第31-32页 |
3.4.3 Western blot | 第32-34页 |
3.5 液相芯片检测与转录组测序 | 第34-35页 |
3.5.1 组蛋白H4 液相芯片修饰位点检测 | 第34页 |
3.5.2 RNA—Seq检测 | 第34-35页 |
4 实验结果 | 第35-47页 |
4.1 hUC-MSCs的传代培养及表型变化 | 第35-38页 |
4.1.1 传代培养获取不同代数的hUC-MSCs | 第35-36页 |
4.1.2 不同代数hUC-MSCs的细胞表面标志蛋白CD105 的表达变化 | 第36-38页 |
4.1.3 不同代数hUC-MSCs的克隆形成能力检测 | 第38页 |
4.2 不同代数hUC-MSCs的衰老标志物表达及增殖能力检测 | 第38-45页 |
4.2.1 RT-qPCR和 Western blot检验细胞衰老标志物β-半乳糖苷酶表达状况 | 第39-40页 |
4.2.2 不同代数hUC-MSCs的细胞增殖能力检测 | 第40-41页 |
4.2.3 转录组测序探究传代衰老过程中的基因表达变化 | 第41-42页 |
4.2.4 不同代数hUC-MSCs的细胞周期的检测 | 第42-43页 |
4.2.5 不同代数hUC-MSCs细胞周期抑制蛋白p16,p21和p53 的表达检测 | 第43-45页 |
4.3 组蛋白液相芯片修饰位点检测和转录组测序分析验证 | 第45-47页 |
4.3.1 组蛋白H4 液相芯片修饰位点检测 | 第45-46页 |
4.3.2 H4K20me,H4K20me2,H4K20me3 修饰检验 | 第46-47页 |
5 讨论 | 第47-48页 |
6 结论 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49-55页 |
致谢 | 第55-56页 |