| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 选题背景及其意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展状态分析 | 第11-13页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 紫外成像系统结构以及硬件平台的搭建 | 第15-32页 |
| 2.1 整体框架介绍 | 第15-16页 |
| 2.2 光学系统 | 第16-18页 |
| 2.3 ICCD相机系统 | 第18-21页 |
| 2.4 电源设计 | 第21页 |
| 2.5 外部电路与传感器综合系统 | 第21-28页 |
| 2.5.1 温度湿度传感器原理与电路设计 | 第21-23页 |
| 2.5.2 气压传感器原理 | 第23-26页 |
| 2.5.3 激光测距仪传感器 | 第26-27页 |
| 2.5.4 单片机控制系统设计 | 第27-28页 |
| 2.6 硬件PCB电路设计与实物的制作 | 第28-31页 |
| 2.6.1 硬件电路设计与PCB布线 | 第29页 |
| 2.6.2 实物的制作 | 第29-31页 |
| 2.7 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 紫外成像仪软件系统与紫外图像特征参量提取 | 第32-48页 |
| 3.1 紫外成像仪软件系统设计 | 第32-37页 |
| 3.1.1 紫外、可见光视频采集与融合 | 第32-34页 |
| 3.1.2 基于串口的系统通讯设计 | 第34-36页 |
| 3.1.3 紫外成像仪软件界面设计 | 第36-37页 |
| 3.1.4 数据的存储 | 第37页 |
| 3.2 试验方法 | 第37-40页 |
| 3.2.1 试验平台的搭建 | 第37-38页 |
| 3.2.2 试品的选择 | 第38-39页 |
| 3.2.3 试验方法 | 第39-40页 |
| 3.3 紫外图像特征参量的提取 | 第40-45页 |
| 3.3.1 紫外图谱预处理 | 第41页 |
| 3.3.2 基于GraphCuts的紫外图谱的聚类分割 | 第41-42页 |
| 3.3.3 紫外图谱参数的定义 | 第42-44页 |
| 3.3.4 紫外图谱参数计算对比 | 第44-45页 |
| 3.4 紫外等效光斑面积随着观测距离的变化特性 | 第45-47页 |
| 3.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 基于紫外成像仪的瓷绝缘子污秽度判定 | 第48-56页 |
| 4.1 投影寻踪法的基本理论 | 第48-50页 |
| 4.2 基于投影寻踪法的绝缘子污秽等级判定实例分析 | 第50-54页 |
| 4.2.1 绝缘子污秽评估指标体系 | 第50-53页 |
| 4.2.2 实际算例求解 | 第53-54页 |
| 4.3 本章小结 | 第54-56页 |
| 第5章 结论与展望 | 第56-58页 |
| 5.1 结论 | 第56-57页 |
| 5.2 展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 攻读硕士学位期间参加的科研工作与取得的成果 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |