| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 液晶光栅相位检测的研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第12-14页 |
| 第二章 液晶光栅相位检测方法研究 | 第14-25页 |
| 2.1 液晶光栅相位检测的典型方法 | 第14-20页 |
| 2.1.1 横向剪切干涉法 | 第15-17页 |
| 2.1.2 径向剪切干涉法 | 第17-19页 |
| 2.1.3 基于共轭移相的干涉方法 | 第19-20页 |
| 2.2 本文改进的液晶光栅相位检测方法 | 第20-24页 |
| 2.2.1 基于正交移相共轭干涉的相位检测 | 第21-23页 |
| 2.2.2 与传统测量方法对比 | 第23-24页 |
| 2.3. 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 相位恢复算法研究 | 第25-34页 |
| 3.1 传统相位恢复算法研究 | 第25-27页 |
| 3.2 矩阵光学的方法处理 | 第27-31页 |
| 3.2.1 琼斯矩阵 | 第28页 |
| 3.2.2 矩阵光学分析 | 第28-31页 |
| 3.3 计算结果与分析 | 第31-33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 实验部分研究 | 第34-60页 |
| 4.1 光学系统的搭建 | 第34-39页 |
| 4.1.1 光束准直性的调试 | 第35-37页 |
| 4.1.2 干涉条纹对比度的调试 | 第37-39页 |
| 4.2 系统软件部分设计 | 第39-46页 |
| 4.2.1 PZT步进控制和CCD图像采集 | 第40-41页 |
| 4.2.2 软件设计主界面 | 第41-43页 |
| 4.2.3 图像处理部分 | 第43-46页 |
| 4.3 四参数正弦波曲线拟合算法用于压电陶瓷位移电压计算 | 第46-54页 |
| 4.3.1 四参数正弦波曲线拟合算法 | 第46-50页 |
| 4.3.2 条纹周期的检测 | 第50-54页 |
| 4.4 剪切板的相位测量 | 第54-57页 |
| 4.5 实验结果与误差分析 | 第57-59页 |
| 4.6 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 结论与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 研究工作总结 | 第60-61页 |
| 5.2 工作展望 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第67-68页 |