射频电路多参数健康评估技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 电路健康度评估技术发展现状及趋势 | 第13-14页 |
| 1.4 研究内容与结构安排 | 第14-16页 |
| 1.4.1 研究内容 | 第14页 |
| 1.4.2 论文组织结构 | 第14-16页 |
| 第二章 射频电路性能退化仿真设计与实现 | 第16-33页 |
| 2.1 射频电路性能退化仿真原理 | 第16-18页 |
| 2.1.1 射频电路性能退化时间仿真原理 | 第16-18页 |
| 2.1.2 射频电路性能退化参数仿真原理 | 第18页 |
| 2.2 射频电路性能退化分析 | 第18-21页 |
| 2.3 典型射频电路性能退化仿真设计与实现 | 第21-32页 |
| 2.3.1 低噪声放大器仿真设计 | 第22-23页 |
| 2.3.2 低噪声放大器电路性能退化仿真 | 第23-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 基于HMM的射频电路性能退化监测研究 | 第33-51页 |
| 3.1 HMM的基本理论 | 第33-39页 |
| 3.2 射频电路的隐马尔科夫模型 | 第39-43页 |
| 3.3 基于HMM的射频电路的健康监测模型 | 第43-50页 |
| 3.3.1 射频电路状态监测与健康管理原理 | 第43-46页 |
| 3.3.2 射频电路状态监测建立 | 第46-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 射频电路健康评估及预测方法研究 | 第51-71页 |
| 4.1 概述 | 第51页 |
| 4.2 退化轨迹模型 | 第51-55页 |
| 4.2.1 性能退化退化轨迹模型 | 第51-53页 |
| 4.2.2 性能退化量模型 | 第53-55页 |
| 4.3 性能退化拟合方法 | 第55-61页 |
| 4.3.1 退化轨迹拟合方法实现 | 第55-59页 |
| 4.3.2 退化量分步法研究 | 第59-61页 |
| 4.4 基于曲线相似度的健康评估及预测方法 | 第61-63页 |
| 4.4.1 曲线相似度的定义 | 第61-62页 |
| 4.4.2 基于曲线相似度的健康评估及预测 | 第62-63页 |
| 4.5 实例验证 | 第63-70页 |
| 4.5.1 基于激光器性能退化数据的健康度评估 | 第63-69页 |
| 4.5.2 基于射频电路性能退化数据的健康度评估 | 第69-70页 |
| 4.6 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 验证软件的设计与实现 | 第71-84页 |
| 5.1 总体设计流程 | 第71-72页 |
| 5.2 软件界面 | 第72-76页 |
| 5.2.1 射频电路的健康监测界面 | 第73-75页 |
| 5.2.2 射频电路健康评估及预测 | 第75-76页 |
| 5.3 实例验证 | 第76-83页 |
| 5.4 本章小结 | 第83-84页 |
| 第六章 总结与展望 | 第84-86页 |
| 6.1 全文工作总结 | 第84-85页 |
| 6.2 今后工作展望 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-90页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第90-91页 |
