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InGaAs PIN光电探测器和ASE宽谱光源的老化研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 绪论第9-17页
    1.1 研究背景第9-10页
    1.2 国内外研究现状第10-14页
        1.2.1 加速老化对ASE宽谱光源的影响研究现状第10-11页
        1.2.2 在空间辐照环境中ASE宽谱光源性能研究现状第11-12页
        1.2.3 InGaAs光电探测器的影响研究现状第12-14页
    1.3 主要研究工作内容第14-17页
        1.3.1 研究意义及目的第14页
        1.3.2 创新点第14-15页
        1.3.3 章节安排第15-17页
第二章 加速老化实验理论研究第17-25页
    2.1 加速老化实验介绍第17-19页
        2.1.1 加速寿命及分类第17页
        2.1.2 寿命分布第17-19页
    2.2 高温加速老化理论第19-23页
        2.2.1 阿伦尼斯(Arrhenius)模型第19-20页
        2.2.2 活化能第20-21页
        2.2.3 加速因子第21-23页
    2.3 空间辐照加速老化理论第23页
    2.4 本章小结第23-25页
第三章 INGAAS PIN光电探测器的加速老化研究第25-38页
    3.1 探测器噪声模型第25-29页
        3.1.1 InGaAs PIN光电探测器第25-26页
        3.1.2 探测器噪声第26-29页
    3.2 实验方案设计第29-32页
        3.2.1 检测信号设计第29-30页
        3.2.2 高温加速老化实验方案第30-32页
        3.2.3 老化前、后探测器性能对比实验第32页
    3.3 实验结果与讨论第32-37页
        3.3.1 老化过程中探测器本底噪声的演化情况第32-34页
        3.3.2 老化前、后探测器线性区的变化情况第34-35页
        3.3.3 老化前、后探测器噪声的温度特性第35-37页
    3.4 本章小结第37-38页
第四章 ASE宽谱光源光噪声的加速老化研究第38-60页
    4.1 ASE宽谱光源第38-43页
        4.1.1 ASE宽谱光源基本结构第38-39页
        4.1.2 ASE宽谱光源光噪声分析第39-43页
        4.1.3 温度对ASE光源光路部分影响第43页
    4.2 高温加速实验方案第43-46页
        4.2.1 光信号检测设计第43-44页
        4.2.2 高温加速老化实验方案第44-46页
        4.2.3 光噪声温度特性实验设计第46页
        4.2.4 老化前、后光源光谱及噪声特性对比实验第46页
    4.3 高温加速结果与讨论第46-51页
        4.3.1 光噪声测量第46-47页
        4.3.2 老化过程中光噪声的演化情况第47-48页
        4.3.3 光功率和温度对光噪声的影响第48-50页
        4.3.4 光谱变化第50-51页
    4.4 辐照加速实验方案第51-54页
        4.4.1 辐照加速老化实验方案第51-52页
        4.4.2 辐照工作准备第52-54页
    4.5 辐照加速实验结果与讨论第54-58页
        4.5.1 辐照老化过程中光功率及光谱的变化情况情况第54-56页
        4.5.2 不同辐照剂量和总辐照剂量对光噪声的影响第56-58页
    4.6 本章小结第58-60页
第五章 总结与展望第60-62页
参考文献第62-67页
发表论文和参加科研情况说明第67-68页
致谢第68-69页

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