| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 现代通信技术与微波介质陶瓷 | 第9-10页 |
| 1.2 微波介质陶瓷的性能参数 | 第10-13页 |
| 1.3 微波介质陶瓷的历史及发展趋势 | 第13-16页 |
| 1.4 课题提出的背景 | 第16-17页 |
| 1.5 本文的研究内容 | 第17-18页 |
| 2 陶瓷样品的制备及性能测试 | 第18-23页 |
| 2.1 实验试剂的选择 | 第18页 |
| 2.2 固相法的制备工艺过程 | 第18-20页 |
| 2.3 陶瓷样品性能测试 | 第20-23页 |
| 3 简单钙钛矿结构CaTiO_3-LaGaO_3陶瓷的性能研究 | 第23-28页 |
| 3.1 引言 | 第23页 |
| 3.2 预烧温度对 xCaTiO3- 1-x LaGaO3陶瓷的影响 | 第23-27页 |
| 3.3 本章小结 | 第27-28页 |
| 4 0.64 CaTiO_3-0.36LaGaO_3系陶瓷的降烧研究 | 第28-39页 |
| 4.1 引言 | 第28-29页 |
| 4.2 掺杂降烧的工艺流程 | 第29页 |
| 4.3 助烧剂对 0.64CaTiO_3-0.36LaGaO_3样品微波介电性能的影响 | 第29-37页 |
| 4.4 本章小结 | 第37-39页 |
| 5 CaTiO_3-LaGaO_3陶瓷的改性研究 | 第39-51页 |
| 5.1 引言 | 第39页 |
| 5.2 0.64CaTiO_3–0.36La[Ga_(1-δ)Al_δ]O_3陶瓷的制备 | 第39-42页 |
| 5.3 B 位 Al~(3+)取代对 0.64CaTiO_3–0.36La[Ga_(1-δ)Al_δ]O_3晶体结构的影响 | 第42-43页 |
| 5.4 0.64CaTiO_3–0.36La[Ga_(1-δ)Al_δ]O_3样品的微观形貌 | 第43-46页 |
| 5.5 0.64CaTiO_3–0.36La[Ga_(1-δ)Al_δ]O_3样品的密度和微波介电性能 | 第46-47页 |
| 5.6 对 xCaTiO_3–(1-x)La[Ga_(0.5)Al_(0.5)]O_3材料体系的研究 | 第47-49页 |
| 5.7 本章小结 | 第49-51页 |
| 6 总结与展望 | 第51-54页 |
| 6.1 本文的主要结论 | 第51-52页 |
| 6.2 本文的创新点 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 附录：攻读硕士学位期间研究成果 | 第60页 |
