| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 插图目录 | 第11-13页 |
| 表格目录 | 第13-14页 |
| 第一章 引言 | 第14-18页 |
| 第二章 交叉克尔效应和相干光测量的基础理论 | 第18-29页 |
| 2.1 常用的光学元件 | 第18-21页 |
| 2.2 交叉克尔效应的量子简述 | 第21-24页 |
| 2.2.1 交叉克尔效应简介 | 第21-22页 |
| 2.2.2 弱交叉克尔效应 | 第22-23页 |
| 2.2.3 巨交叉克尔效应 | 第23-24页 |
| 2.3 相干光相位区分探测的三种方法 | 第24-27页 |
| 2.3.1 坐标空间投影测量 | 第24-26页 |
| 2.3.2 动量空间投影测量 | 第26-27页 |
| 2.3.3 光子数空间投影测量 | 第27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-29页 |
| 第三章 基于交叉克尔效应的受控相位门和四量子比特宇称测量 | 第29-37页 |
| 3.1 受控相位门的实现 | 第29-32页 |
| 3.1.1 量子逻辑门简介 | 第29-31页 |
| 3.1.2 基于交叉克尔效应的受控相位门 | 第31-32页 |
| 3.2 量子比特宇称测量 | 第32-36页 |
| 3.2.1 Nemoto量子比特宇称测量简介 | 第32-34页 |
| 3.2.2 四量子比特宇称测量 | 第34-36页 |
| 3.3 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 基于交叉克尔效应的四光子团簇态分析器及应用 | 第37-45页 |
| 4.1 团簇态分析器 | 第37-40页 |
| 4.1.1 团簇态简介 | 第37-38页 |
| 4.1.2 四光子团簇态分析器 | 第38-40页 |
| 4.2 基于四光子团簇态分析器的四比特密集编码方案 | 第40-44页 |
| 4.3 本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 结论 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文目录 | 第59-60页 |
