| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-28页 |
| 1 新型非易失存储器概述 | 第9-11页 |
| 1.1 铁电存储器 | 第9页 |
| 1.2 磁阻存储器 | 第9-10页 |
| 1.3 相变存储器 | 第10页 |
| 1.4 阻变存储器 | 第10-11页 |
| 2 阻变存储器的发展以及物理机制 | 第11-21页 |
| 2.1 阻变效应的分类 | 第11-12页 |
| 2.2 阻变特征参数 | 第12-14页 |
| 2.3 电阻变换的物理机制 | 第14-19页 |
| 2.4 MIM结构电输运过程 | 第19-21页 |
| 3 ZnO基阻变存储器研究进展 | 第21-26页 |
| 3.1 电极对ZnO基阻变存储器的影响 | 第21-22页 |
| 3.2 掺杂对ZnO基阻变存储器的影响 | 第22-24页 |
| 3.3 ZnO基多功能阻变器件 | 第24-26页 |
| 4 本文研究思路与内容 | 第26-28页 |
| 第二章 样品制备方法以及表征测试技术 | 第28-35页 |
| 1 样品制备方法 | 第28-32页 |
| 1.1 脉冲激光沉积 | 第28-30页 |
| 1.2 磁控溅射 | 第30-31页 |
| 1.3 固相烧结 | 第31-32页 |
| 2 样品表征技术 | 第32-35页 |
| 第三章 Pt/Co_(0.03)Zn_(0.97)O/NSTO异质结阻变特性研究 | 第35-46页 |
| 1 Pt/CZO/NSTO结构阻变器件制备 | 第35-36页 |
| 2 CZO薄膜的物相结构测试与形貌测试 | 第36-37页 |
| 3 Pt/CZO/NSTO器件的阻变特性测试 | 第37-39页 |
| 4 Pt/CZO/NSTO器件的多态存储 | 第39-40页 |
| 5 I-V特性拟合分析 | 第40-41页 |
| 6 Pt/CZO/NSTO光响应测试 | 第41-42页 |
| 7 Pt/CZO/NSTO器件磁性调控 | 第42-44页 |
| 8 阻变机理分析 | 第44-46页 |
| 第四章 总结 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-53页 |
| 硕士期间发表论文 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |