电子熔断器关键电路的研究与设计
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-13页 |
| 1.1.1 USB接口简介 | 第11-12页 |
| 1.1.2 热插拔电源管理芯片的意义 | 第12页 |
| 1.1.3 热插拔电源管理类芯片的发展 | 第12-13页 |
| 1.2 电子熔断器的设计 | 第13-15页 |
| 1.3 本文的主要工作与安排 | 第15-16页 |
| 第2章 USB电子熔断器的设计原理 | 第16-26页 |
| 2.1 热插拔 | 第16-17页 |
| 2.2 电子熔断器保护类开关的两种拓扑 | 第17-20页 |
| 2.2.1 功率管为PMOS的电子熔断器结构 | 第18-19页 |
| 2.2.2 功率管为NMOS的电子熔断器结构 | 第19-20页 |
| 2.3 指标设计依据以及器件选型 | 第20-25页 |
| 2.3.1 指标设计依据 | 第20-21页 |
| 2.3.2 负载电容的充电时间 | 第21页 |
| 2.3.3 功率MOSFET的选型 | 第21-24页 |
| 2.3.4 软启动的原理与实现 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 过流保护电路的设计与仿真验证 | 第26-41页 |
| 3.1 早期的过流保护电路 | 第26-29页 |
| 3.1.1 过流保护、短路保护、限流保护 | 第26页 |
| 3.1.2 早期的过流保护电路 | 第26-29页 |
| 3.2 低功耗过流保护模块的设计 | 第29-38页 |
| 3.2.1 预比较电路 | 第30-36页 |
| 3.2.2 精准采样电路 | 第36-37页 |
| 3.2.3 单边延时的比较器 | 第37-38页 |
| 3.3 仿真验证 | 第38-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 驱动电路的设计与仿真验证 | 第41-56页 |
| 4.1 MOSFET电气开关及其驱动简介 | 第41-48页 |
| 4.1.1 MOS管的介绍 | 第41-43页 |
| 4.1.2 电气开关的基本要求 | 第43-44页 |
| 4.1.3 MOSFET开关管的驱动要求和损失 | 第44-48页 |
| 4.2 栅极驱动电路的设计 | 第48-53页 |
| 4.2.1 防误触发电路 | 第49页 |
| 4.2.2 低压启动 | 第49-50页 |
| 4.2.3 自关断迟滞特性 | 第50-51页 |
| 4.2.4 软启动 | 第51-53页 |
| 4.3 仿真验证 | 第53-55页 |
| 4.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 驱动电路及其过流保护的级联仿真 | 第56-62页 |
| 5.1 级联仿真电路的搭建 | 第56页 |
| 5.2 关键参数与波形的仿真 | 第56-61页 |
| 5.2.1 导通阻抗的仿真 | 第56-57页 |
| 5.2.2 功率管的导通仿真 | 第57-58页 |
| 5.2.3 不同负载电容下的POWER ON仿真 | 第58-59页 |
| 5.2.4 短路及短路恢复的仿真 | 第59-61页 |
| 5.3 本章小结 | 第61-62页 |
| 结论与未来的工作 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第67页 |
