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基于MapReduce的液晶屏缺陷检测技术研究

致谢第7-8页
摘要第8-9页
ABSTRACT第9-10页
第一章 绪论第15-20页
    1.1 课题研究背景及意义第15-16页
    1.2 国内外研究现状第16-17页
    1.3 论文的研究内容第17-18页
    1.4 论文的结构安排第18-20页
第二章 Hadoop平台分析第20-30页
    2.1 Hadoop框架结构第20-21页
    2.2 Hadoop分布式文件系统第21-23页
        2.2.1 HDFS基本原理第21页
        2.2.2 HDFS数据读写第21-23页
    2.3 MapReduce并行计算框架第23-29页
        2.3.1 MapReduce功能特点第24-25页
        2.3.2 MapReduce作业运行第25-27页
        2.3.3 MapReduce I/O格式第27-28页
        2.3.4 MapReduce作业链接第28-29页
    2.4 本章小结第29-30页
第三章 基于MapReduce的背景纹理抑制第30-45页
    3.1 图像纹理背景抑制第30-34页
        3.1.1 傅里叶变换法第30-31页
        3.1.2 奇异值分解法第31-34页
    3.2 纹理去除的MapReduce方法设计第34-38页
        3.2.1 图像存储结构与读写接口设计第34-36页
        3.2.2 基于SVD的图像分布式纹理背景去除第36-38页
    3.3 算法测试验证第38-44页
        3.3.1 实验环境搭建第38-41页
        3.3.2 实验测试结果第41-44页
    3.4 本章小结第44-45页
第四章 基于MapReduce的缺陷分割与分类第45-68页
    4.1 缺陷分割第45-51页
        4.1.1 常用缺陷分割算法第45-46页
        4.1.2 主动轮廓分割模型第46-49页
        4.1.3 改进的C-V分割模型第49-51页
    4.2 缺陷特征提取第51-56页
        4.2.1 纹理特征提取第51-54页
        4.2.2 形状特征提取第54-56页
    4.3 分类器设计第56-60页
        4.3.1 线性SVM第56-58页
        4.3.2 非线性SVM第58-59页
        4.3.3 单分类SVM第59-60页
    4.4 缺陷分割与分类的MapReduce方法设计第60-67页
        4.4.1 二次缺陷分割第60-62页
        4.4.2 SVM缺陷分类第62-65页
        4.4.3 实验测试结果第65-67页
    4.5 本章小结第67-68页
第五章 总结与展望第68-70页
参考文献第70-74页
攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况第74-75页

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