| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 低频电缆测试的研究 | 第10-14页 |
| 1.2 高密低频电缆自动化测试设备的预期目标 | 第14页 |
| 1.3 本文研究工作要点及安排 | 第14-16页 |
| 第2章 高密低频电缆自动化测试设备总体设计 | 第16-30页 |
| 2.1 核心处理器及驱动芯片的选择 | 第16-19页 |
| 2.1.1 核心处理器的比较 | 第16-17页 |
| 2.1.2 FPGA的简介 | 第17页 |
| 2.1.3 FPGA的选型 | 第17-18页 |
| 2.1.4 驱动芯片选型 | 第18-19页 |
| 2.2 总体设计思路 | 第19-25页 |
| 2.2.1 高密低频电缆自动化测试设备的总体设计思路 | 第19-21页 |
| 2.2.2 数据传输协议及测试方法介绍 | 第21-22页 |
| 2.2.2.1 数据传输协议 | 第21页 |
| 2.2.2.2 测试方法 | 第21-22页 |
| 2.2.3 高密低频电缆自动化测试设备的整体架构 | 第22-23页 |
| 2.2.4 高密低频电缆自动化测试设备概述 | 第23页 |
| 2.2.5 高密低频电缆自动化测试设备的硬件结构设计 | 第23-25页 |
| 2.3 设计方案的实施 | 第25-29页 |
| 2.3.1 硬件需求 | 第25-26页 |
| 2.3.2 软件需求 | 第26-28页 |
| 2.3.3 高密低频电缆自动化测试设备的测试流程 | 第28-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 硬件电路设计 | 第30-42页 |
| 3.1 硬件电路概况 | 第30页 |
| 3.2 母板硬件电路设计 | 第30-33页 |
| 3.2.1 电源模块电路设计 | 第30-32页 |
| 3.2.2 外部晶振模块电路设计 | 第32-33页 |
| 3.2.3 驱动模块电路设计 | 第33页 |
| 3.2.4 RM642转接模块设计 | 第33页 |
| 3.3 转接板设计 | 第33-39页 |
| 3.3.1 转接模块的设计 | 第33-37页 |
| 3.3.2 W25高密低频线缆转接模块的设计 | 第37-38页 |
| 3.3.3 WD-L2高密低频线缆转接模块的设计 | 第38页 |
| 3.3.4 WD-L3高密低频线缆转接模块的设计 | 第38-39页 |
| 3.4 显示面板设计 | 第39-41页 |
| 3.4.1 显示面板转接模块的设计 | 第39-41页 |
| 3.4.2 LED显示模块的设计 | 第41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 软件设计 | 第42-56页 |
| 4.1 系统功能结构图 | 第42页 |
| 4.2 系统数据流图 | 第42-44页 |
| 4.3 系统功能模块划分 | 第44-45页 |
| 4.4 系统各个功能模块的程序设计 | 第45-55页 |
| 4.4.1 主模块的设计 | 第45-47页 |
| 4.4.2 时钟产生模块的设计 | 第47-48页 |
| 4.4.3 时间控制模块的设计 | 第48页 |
| 4.4.4 上电确认模块的设计 | 第48-49页 |
| 4.4.5 发送端数据产生模块的设计 | 第49-51页 |
| 4.4.6 接收端数据记录模块的设计 | 第51-52页 |
| 4.4.7 比较模块的设计 | 第52-54页 |
| 4.4.8 LED灯显示控制模块的设计 | 第54-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第5章 程序调试与试验效果 | 第56-64页 |
| 5.1 系统程序调试 | 第56-60页 |
| 5.1.1 程序总体调试及仿真 | 第56-60页 |
| 5.1.1.1 程序调试界面介绍 | 第56页 |
| 5.1.1.2 程序调试及仿真过程 | 第56-58页 |
| 5.1.1.3 调试过程出现的错误及错误分析 | 第58-59页 |
| 5.1.1.4 最终调试结果 | 第59-60页 |
| 5.2 系统程序试验效果 | 第60-63页 |
| 5.3 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 附录 | 第72-81页 |