BESⅢ端盖飞行时间读出电子学系统升级设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| ·北京谱仪BESⅢ 的升级改造 | 第11-13页 |
| ·BESⅢ 升级 | 第11-12页 |
| ·飞行时间计数器（TOF） | 第12-13页 |
| ·北京谱仪BESⅢ 系统ETOF 系统升级 | 第13-15页 |
| ·ETOF 系统升级的必要性 | 第13页 |
| ·ETOF 升级系统指标 | 第13页 |
| ·ETOF 升级系统探测器 | 第13-14页 |
| ·ETOF 系统升级 | 第14-15页 |
| ·本论文的工作和总体设计 | 第15页 |
| 参考文献 | 第15-16页 |
| 第二章 时间测量和电荷测量 | 第16-27页 |
| ·时间测量 | 第16-21页 |
| ·定时方法 | 第16-18页 |
| ·时间数字化TDC | 第18-21页 |
| ·电荷测量 | 第21-25页 |
| ·TOT 技术 | 第21-22页 |
| ·TOT 技术的实现 | 第22-25页 |
| ·小结 | 第25页 |
| 参考文献 | 第25-27页 |
| 第三章 探测器读出电子学系统 | 第27-38页 |
| ·国际上运行的探测器读出电子学系统 | 第27-33页 |
| ·ALICE TOF 及其读出电子学系统 | 第27-29页 |
| ·美国BNL 的Star TOF 读出电子学系统 | 第29-31页 |
| ·北京谱仪BESⅢ TOF 的读出电子学系统 | 第31-32页 |
| ·兰州CSR 强子探测器读出电子学系统 | 第32-33页 |
| ·BESⅢ ETOF 升级读出电子学系统 | 第33-36页 |
| ·ETOF 读出电子学系统基本考虑 | 第34页 |
| ·ETOF 升级读出电子学系统总体设计 | 第34-36页 |
| ·小结 | 第36页 |
| 参考文献 | 第36-38页 |
| 第四章 ETOF 升级读出电子学系统设计 | 第38-64页 |
| ·前端电子学模块（FEE） | 第39-40页 |
| ·FEE 模块设计 | 第39页 |
| ·FEE 模块位置 | 第39-40页 |
| ·飞行时间数字化插件（TDIG） | 第40-61页 |
| ·信号接收和缓冲 | 第40-41页 |
| ·时间测量部分 | 第41-44页 |
| ·FPGA 及逻辑控制 | 第44-49页 |
| ·CPLD 模块 | 第49-54页 |
| ·输入连接器选择 | 第54-55页 |
| ·其他设计考虑 | 第55-61页 |
| ·辅助模块（CTTP） | 第61-62页 |
| ·小结 | 第62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 第五章 读出电子学系统性能测试与分析 | 第64-75页 |
| ·电子学系统误差 | 第64-65页 |
| ·TDIG 插件性能测试 | 第65-66页 |
| ·电子学测试平台 | 第66-67页 |
| ·电子学测试硬件平台 | 第66-67页 |
| ·电子学测试软件平台 | 第67页 |
| ·电子学测试 | 第67-73页 |
| ·TDIG 插件性能测试 | 第68-71页 |
| ·读出电子学系统性能测试 | 第71-73页 |
| ·小结 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-75页 |
| 第六章 总结和展望 | 第75-77页 |
| ·总结 | 第75页 |
| ·展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-77页 |
| 附录 1 前端电子学模块FEE 照片 | 第77-78页 |
| 附录 2 时间数字化插件TDIG 照片 | 第78-79页 |
| 附录 3 TDIG 插件测试板照片 | 第79-80页 |
| 附录 4 读出电子学联合调试照片 | 第80-81页 |
| 攻读学位期间的科研成果 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
