面向结构光对缝测量的光条细化方法
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第13页 |
| 1.2 国内外应用与研究现状 | 第13-16页 |
| 1.2.1 结构光测量的国内外应用现状 | 第13-15页 |
| 1.2.2 光条细化的国内外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 主要研究内容与结构安排 | 第16-19页 |
| 1.3.1 主要研究内容 | 第16-17页 |
| 1.3.2 章节结构安排 | 第17-19页 |
| 第二章 结构光光条图像预处理 | 第19-31页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 结构光光条的产生 | 第19-20页 |
| 2.3 光条图像质量影响因素分析 | 第20-22页 |
| 2.4 结构光光条图像去噪 | 第22-27页 |
| 2.4.1 结构光光条图像噪声分析 | 第22页 |
| 2.4.2 光条图像的传统去噪方法 | 第22-24页 |
| 2.4.3 改进的光条图像去噪方法 | 第24-27页 |
| 2.5 光条图像对缝测量区域提取 | 第27-30页 |
| 2.5.1 光条骨架提取 | 第27-29页 |
| 2.5.2 对缝测量区域提取 | 第29-30页 |
| 2.6 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 面向对缝测量的光条细化方法及改进 | 第31-47页 |
| 3.1 引言 | 第31页 |
| 3.2 光条细化的传统方法 | 第31-35页 |
| 3.2.1 基于几何中心的光条细化 | 第31-32页 |
| 3.2.2 基于能量中心的光条细化 | 第32-35页 |
| 3.3 线结构光光条截面模型分析 | 第35-37页 |
| 3.4 基于自适应傅里叶拟合的光条细化方法 | 第37-46页 |
| 3.4.1 光条骨架法线方向求解 | 第38-40页 |
| 3.4.2 双线性差值求法向光条截面灰度值 | 第40-42页 |
| 3.4.3 自适应阈值确定条纹法向宽度 | 第42-43页 |
| 3.4.4 对缝处溢出点的去除 | 第43-44页 |
| 3.4.5 傅里叶拟合计算光条中心的亚像素坐标 | 第44-46页 |
| 3.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 结构光光条细化精度分析 | 第47-57页 |
| 4.1 引言 | 第47页 |
| 4.2 传统的细化精度评价方法 | 第47-49页 |
| 4.3 改进的细化精度评价方法 | 第49-51页 |
| 4.3.1 直线光条细化精度评价方法 | 第49-50页 |
| 4.3.2 曲线光条细化精度评价方法 | 第50-51页 |
| 4.4 实验验证与分析 | 第51-56页 |
| 4.4.1 直线光条的细化精度分析 | 第51-54页 |
| 4.4.2 曲线光条的细化精度分析 | 第54-56页 |
| 4.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 结构光对缝测量的应用测试与分析 | 第57-67页 |
| 5.1 引言 | 第57页 |
| 5.2 双线结构光对缝测量方案 | 第57-59页 |
| 5.2.1 蒙皮阶差测量方案 | 第57-58页 |
| 5.2.2 蒙皮间隙测量方案 | 第58-59页 |
| 5.3 间隙阶差测量实验与误差分析 | 第59-66页 |
| 5.3.1 实验流程与测量系统 | 第59-61页 |
| 5.3.2 阶差测量精度分析 | 第61-63页 |
| 5.3.3 间隙测量精度分析 | 第63-66页 |
| 5.3.4 误差分析 | 第66页 |
| 5.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 6.1 全文总结 | 第67页 |
| 6.2 研究展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第74页 |
