太赫兹时域光谱技术研究及应用
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-23页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-22页 |
| ·国内外的研究机构 | 第11-12页 |
| ·太赫兹时域光谱技术研究现状 | 第12-13页 |
| ·太赫兹技术应用进展 | 第13-22页 |
| ·论文目标和内容 | 第22-23页 |
| 第二章 光导天线产生太赫兹脉冲辐射的研究 | 第23-40页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·光导天线产生太赫兹辐射的基本原理 | 第23-26页 |
| ·光导天线结构与太赫兹辐射原理 | 第23-24页 |
| ·太赫兹辐射系统性能影响因素及系统组成的选择 | 第24-26页 |
| ·大口径光导天线近场太赫兹辐射 | 第26-32页 |
| ·近场辐射理论推导 | 第26-28页 |
| ·近场辐射数值计算 | 第28-32页 |
| ·大口径光导天线远场太赫兹辐射 | 第32-33页 |
| ·载流子影响分析 | 第33-35页 |
| ·其它可能的辐射机制 | 第35-36页 |
| ·表面电场 | 第35页 |
| ·光致丹倍效应 | 第35-36页 |
| ·砷化镓的强电场效应 | 第36-39页 |
| ·不同电场强度下的载流子输运特性 | 第36-37页 |
| ·偶极畴 | 第37-38页 |
| ·实验研究 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第三章 探测太赫兹脉冲的电光采样方法研究 | 第40-51页 |
| ·引言 | 第40页 |
| ·电光采样方法探测太赫兹脉冲的基本原理 | 第40-44页 |
| ·太赫兹波改变晶体折射率的理论计算 | 第40-43页 |
| ·电光采样技术检测太赫兹脉冲时域波形 | 第43-44页 |
| ·探测结果的影响因素 | 第44-47页 |
| ·非线性晶体的选择 | 第47-50页 |
| ·晶体角度选择 | 第47页 |
| ·晶体厚度选择 | 第47-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 太赫兹波在介质中的传播 | 第51-56页 |
| ·引言 | 第51页 |
| ·连续太赫兹波在散射介质中传播的FDTD模拟 | 第51-53页 |
| ·太赫兹脉冲在色散介质中传播的FDTD模拟 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 太赫兹时域光谱系统设计 | 第56-67页 |
| ·引言 | 第56页 |
| ·太赫兹时域光谱系统 | 第56-62页 |
| ·太赫兹时域光谱系统原理 | 第56-58页 |
| ·本文搭建的太赫兹时域光谱系统 | 第58-62页 |
| ·系统性能分析 | 第62-66页 |
| ·太赫兹辐射强度 | 第62-63页 |
| ·谱宽 | 第63页 |
| ·时间分辨率 | 第63-64页 |
| ·频谱分辨率 | 第64页 |
| ·信噪比 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 药品的太赫兹时域光谱测量 | 第67-74页 |
| ·引言 | 第67页 |
| ·实验样品制备及其太赫兹时域光谱探测 | 第67-69页 |
| ·实验样品简介及制备方法 | 第67-68页 |
| ·样品探测结果 | 第68-69页 |
| ·数据处理方法 | 第69-70页 |
| ·实验结果分析 | 第70-73页 |
| ·药品谱线 | 第70-72页 |
| ·吸收谱线分析 | 第72-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第七章 太赫兹技术用于炸药老化检测分析 | 第74-80页 |
| ·引言 | 第74页 |
| ·现有老化炸药检测方法 | 第74-76页 |
| ·炸药老化理论计算与能谱分析 | 第76-77页 |
| ·太赫兹时域光谱技术用于炸药老化检测的可行性论证 | 第77-78页 |
| ·讨论 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第八章 总结 | 第80-84页 |
| ·论文主要工作总结 | 第80-81页 |
| ·论文创新点 | 第81-82页 |
| ·展望 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 硕士期间发表论文情况 | 第92页 |
