陶瓷基片外观检测及分拣系统设计
| 中文摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 计算机视觉检测的研究现状 | 第9-12页 |
| 1.2.1 计算机视觉检测的现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 缺陷检测现状 | 第10-12页 |
| 1.3 课题研究内容 | 第12页 |
| 1.4 内容安排 | 第12-14页 |
| 第二章 系统硬件平台的搭建 | 第14-22页 |
| 2.1 系统硬件设计要求 | 第14-15页 |
| 2.2 系统的硬件选择 | 第15-20页 |
| 2.2.1 控制器 | 第15-17页 |
| 2.2.2 相机 | 第17-18页 |
| 2.2.3 光源 | 第18页 |
| 2.2.4 辅助器件 | 第18-20页 |
| 2.3 系统执行过程 | 第20-21页 |
| 2.4 本章小节 | 第21-22页 |
| 第三章 陶瓷基片检测程序设计 | 第22-56页 |
| 3.1 检测程序的总体设计 | 第22-24页 |
| 3.2 嵌入式操作系统开发环境搭建 | 第24-25页 |
| 3.3 基片图像实时采集程序设计 | 第25-27页 |
| 3.4 基片图像处理程序的设计 | 第27-36页 |
| 3.4.1 图像灰度化 | 第28-29页 |
| 3.4.2 图像滤波 | 第29-30页 |
| 3.4.3 图像边缘检测 | 第30-31页 |
| 3.4.4 图像细化 | 第31-32页 |
| 3.4.5 图像二值化 | 第32-33页 |
| 3.4.6 亚像素坐标提取 | 第33-36页 |
| 3.5 缺陷检测 | 第36-44页 |
| 3.5.1 参数计算 | 第38-39页 |
| 3.5.2 缺陷判断 | 第39-44页 |
| 3.6 人机交互界面的设计 | 第44-53页 |
| 3.6.1 嵌入式图形界面开发环境的选择 | 第44-45页 |
| 3.6.2 图形界面的设计 | 第45-53页 |
| 3.6.3 图像显示程序 | 第53页 |
| 3.7 报警程序 | 第53-54页 |
| 3.8 本章小节 | 第54-56页 |
| 第四章 陶瓷基片分拣程序设计 | 第56-64页 |
| 4.1 ARM与PLC通信 | 第57-61页 |
| 4.1.1 PPI协议 | 第57-58页 |
| 4.1.2 通信程序编写 | 第58-61页 |
| 4.2 伺服电机程序设计 | 第61-62页 |
| 4.3 高速计数器程序的设计 | 第62-63页 |
| 4.4 执行器程序设计 | 第63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 系统实验 | 第64-68页 |
| 5.1 实验平台的搭建 | 第64-65页 |
| 5.2 实验步骤 | 第65-66页 |
| 5.3 实验数据 | 第66-67页 |
| 5.4 本章小节 | 第67-68页 |
| 第六章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 6.1 课题总结 | 第68页 |
| 6.2 课题展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 致谢 | 第74-76页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第76页 |
