X射线衍射方法分析单晶镍基合金AM1的残余应力
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-25页 |
| ·研究背景 | 第7页 |
| ·晶体学常识 | 第7-9页 |
| ·残余应力的定义 | 第9-10页 |
| ·X 射线的特性及应用 | 第10-12页 |
| ·X 射线的物理效应 | 第10-11页 |
| ·X 射线的化学效应 | 第11页 |
| ·X 射线的生物效应 | 第11-12页 |
| ·产生X 射线的主要方式 | 第12-18页 |
| ·X 射线管 | 第12-14页 |
| ·激光等离子体光源 | 第14页 |
| ·同步辐射光源 | 第14-17页 |
| ·X 射线激光 | 第17页 |
| ·X 射线自由电子激光 | 第17-18页 |
| ·X 射线衍射技术 | 第18-20页 |
| ·布拉格定律 | 第20-21页 |
| ·X 射线测量多晶体材料残余应力 | 第21-22页 |
| ·X 射线测量单晶材料的残余应力 | 第22-23页 |
| ·单晶高温合金 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第二章 X 射线衍射测量单晶材料的理论方法 | 第25-42页 |
| ·衍射位置的确定 | 第27-30页 |
| ·晶体的投影 | 第27-30页 |
| ·Imura 方法的基本原理 | 第30-31页 |
| ·Ortner 方法测量残余应力的原理 | 第31-36页 |
| ·转换矩阵的定义 | 第31-33页 |
| ·应变应力矩阵的确定 | 第33-36页 |
| ·残余应变与残余应力的转变 | 第36-37页 |
| ·假设σ33=0 | 第37页 |
| ·实验步骤 | 第37-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第三章 X 射线衍射分析残余应力矩阵 | 第42-55页 |
| ·实验材料 | 第42-43页 |
| ·实验仪器介绍 | 第43-45页 |
| ·试验应用与结果讨论 | 第45-53页 |
| ·晶面取向及衍射角度的确定 | 第45-46页 |
| ·Ortner 方法计算残余应力的结果 | 第46-48页 |
| ·衍射参数对试验结果的影响 | 第48-50页 |
| ·Imura 方法及Ortner 方法的比较 | 第50-51页 |
| ·重复测量衍射位置对实验结果的影响 | 第51-53页 |
| ·误差来源及分析方法 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 附录 | 第60-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第67-69页 |
