| 摘要 | 第3-9页 |
| ABSTRACT | 第9-15页 |
| 第一章 前言 | 第18-23页 |
| 第二章 资料和方法 | 第23-29页 |
| 2.1 研究对象 | 第23-26页 |
| 2.2 材料 | 第26-27页 |
| 2.2.1 研究设备及调试 | 第26-27页 |
| 2.2.2 言语识别测试材料 | 第27页 |
| 2.3 研究方法 | 第27-28页 |
| 2.4 统计学分析 | 第28-29页 |
| 第三章 结果 | 第29-34页 |
| 3.1 电极全植入状态下双模式和单CI的言语测试得分比较 | 第29-30页 |
| 3.2 单CI下不全植入状态和全植入状态的言语测试得分比较 | 第30-31页 |
| 3.3 双模式下不全植入状态和全植入状态的言语测试得分比较 | 第31-32页 |
| 3.4 电极不全植入状态下双模式和单CI的言语测试得分比较 | 第32-34页 |
| 第四章 讨论 | 第34-52页 |
| 4.1 减少低频段电极植入深度后言语识别能力的变化 | 第34-37页 |
| 4.2 减少低频段电极植入深度条件下通过双模式改善言语识别能力 | 第37-41页 |
| 4.3 减少电极植入深度下改善言语能力的方法及其与双模式比较 | 第41-46页 |
| 4.4 减少低频段电极植入深度后通过双模式改善言语能力中需注意的问题 | 第46-48页 |
| 4.5 双模式使用现状及其对低频段电极不全植入者的意义 | 第48-52页 |
| 第五章 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 攻读硕士学位期间成果 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
