| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 1 文献综述 | 第12-21页 |
| ·微放电效应的概念 | 第12页 |
| ·微放电效应的研究进展 | 第12-13页 |
| ·微放电效应的危害 | 第13-14页 |
| ·微放电效应的影响因素 | 第14页 |
| ·微放电效应的抑制 | 第14-19页 |
| ·通过填充介质或增大部件间隙尺寸抑制微放电效应 | 第15页 |
| ·通过外加磁场或直流偏置抑制微放电效应 | 第15页 |
| ·通过改变部件表面情况抑制微放电效应 | 第15-19页 |
| ·课题的提出 | 第19-21页 |
| ·本课题的研究内容 | 第19-20页 |
| ·本课题的创新之处 | 第20-21页 |
| 2 实验部分 | 第21-30页 |
| ·主要实验原料与仪器 | 第21-22页 |
| ·主要实验原料 | 第21页 |
| ·主要仪器设备 | 第21-22页 |
| ·以纳米ZnO为模板的银膜陷阱结构的构筑 | 第22-25页 |
| ·镀银铝合金表面纳米ZnO模板的构筑 | 第22-24页 |
| ·在镀银铝合金表面纳米Zn O模板的存在下构筑银膜 | 第24-25页 |
| ·银膜陷阱结构的构筑 | 第25页 |
| ·以PS微球为模板的银膜陷阱结构的构筑 | 第25-29页 |
| ·PS微球在镀银铝合金表面的自组装 | 第25-28页 |
| ·在镀银铝合金表面PS微球模板的存在下构筑银膜 | 第28页 |
| ·银膜陷阱结构的构筑工艺 | 第28-29页 |
| ·测试与表征 | 第29-30页 |
| ·SEM检测 | 第29页 |
| ·TEM检测 | 第29页 |
| ·XRD检测 | 第29页 |
| ·SEY检测 | 第29-30页 |
| 3 以纳米ZnO为模板的银膜陷阱结构的构筑 | 第30-55页 |
| ·镀银铝合金表面纳米Zn O模板的构筑 | 第30-43页 |
| ·晶种制备方式对Zn O纳米阵列生长的影响 | 第33-34页 |
| ·二水合醋酸锌的无水乙醇溶液的涂覆方式对Zn O纳米阵列生长的影响 | 第34-35页 |
| ·ZnO纳米阵列制备过程中锌盐溶液的pH对Zn O纳米阵列生长的影响 | 第35-36页 |
| ·稳定剂对ZnO纳米阵列生长的影响 | 第36-37页 |
| ·浸涂提拉次数对Zn O纳米阵列生长的影响 | 第37-38页 |
| ·晶种制备后期的加热处理对Zn O纳米阵列生长的影响 | 第38页 |
| ·聚乙烯亚胺对ZnO纳米阵列生长的影响 | 第38-39页 |
| ·反应温度对Zn O纳米阵列生长的影响 | 第39-40页 |
| ·反应时间对Zn O纳米阵列生长的影响 | 第40-41页 |
| ·硝酸锌浓度对ZnO纳米阵列生长的影响 | 第41-43页 |
| ·在镀银铝合金表面纳米ZnO模板的存在下构筑银膜 | 第43-50页 |
| ·镀膜方法对所构筑银膜的影响 | 第43-46页 |
| ·ZnO纳米阵列密度对电化学沉积法构筑银膜的影响 | 第46-47页 |
| ·沉积电压对电化学沉积法构筑银膜的影响 | 第47-48页 |
| ·镀银方式对电化学沉积法构筑银膜的影响 | 第48-49页 |
| ·沉积温度对电化学沉积法构筑银膜的影响 | 第49-50页 |
| ·银膜陷阱结构的实现 | 第50-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 4 以PS微球为模板的银膜陷阱结构的构筑 | 第55-70页 |
| ·镀银铝合金表面PS微球的自组装 | 第55-64页 |
| ·自组装方法对PS微球自组装的影响 | 第57-59页 |
| ·PS微球分散介质对PS微球自组装的影响 | 第59-61页 |
| ·样片角度对PS微球自组装的影响 | 第61-62页 |
| ·悬浮液浓度对PS微球自组装的影响 | 第62-63页 |
| ·蒸发温度对PS微球自组装的影响 | 第63-64页 |
| ·在镀银铝合金表面PS微球的存在下构筑银膜 | 第64-68页 |
| ·银膜构筑方式的选择 | 第64-66页 |
| ·PS微球自组装层数对电化学沉积法构筑银膜的影响 | 第66-67页 |
| ·沉积电压对电化学沉积法构筑银膜的影响 | 第67页 |
| ·沉积温度对电化学沉积法构筑银膜的影响 | 第67-68页 |
| ·银膜陷阱结构的实现 | 第68页 |
| ·小结 | 第68-70页 |
| 5 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 攻读硕士学位期间公开的学术成果 | 第80-81页 |
