自动降弓装置试验系统的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 德国研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 日本研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.3 法国研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.4 中国研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 论文主要研究内容与方法 | 第14-16页 |
| 2 自动降弓装置的工作原理 | 第16-24页 |
| 2.1 受电弓控制逻辑 | 第16-18页 |
| 2.1.1 受电弓选择 | 第17页 |
| 2.1.2 受电弓升弓使能 | 第17页 |
| 2.1.3 受电弓升起 | 第17-18页 |
| 2.1.4 受电弓降落 | 第18页 |
| 2.1.5 受电弓状态 | 第18页 |
| 2.1.6 紧急降弓请求 | 第18页 |
| 2.2 受电弓的气路工作原理 | 第18-21页 |
| 2.2.1 受电弓气路 | 第19页 |
| 2.2.2 升弓过程 | 第19页 |
| 2.2.3 降弓过程 | 第19-21页 |
| 2.3 自动降弓装置作用及结构 | 第21-23页 |
| 2.3.1 自动降弓装置的主要作用 | 第21页 |
| 2.3.2 自动降弓装置的结构 | 第21-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 硬件系统设计 | 第24-45页 |
| 3.1 系统总体方案设计 | 第24-25页 |
| 3.2 硬件电路设计 | 第25-32页 |
| 3.2.1 自动降弓响应时间的测试电路 | 第25-26页 |
| 3.2.2 气体泄露量采集电路设计 | 第26-27页 |
| 3.2.3 升弓控制电路和降弓控制电路 | 第27-28页 |
| 3.2.4 显示电路的设计 | 第28页 |
| 3.2.5 数据转存打印电路 | 第28-29页 |
| 3.2.6 泄气电路设计 | 第29-31页 |
| 3.2.7 主供电电路设计 | 第31页 |
| 3.2.8 单片机复位电路及时钟电路设计 | 第31-32页 |
| 3.3 气路部分设计 | 第32-33页 |
| 3.4 硬件选型 | 第33-44页 |
| 3.4.1 单片机的选型 | 第33-34页 |
| 3.4.2 A/D转换芯片的选型 | 第34-37页 |
| 3.4.3 光耦隔离芯片选型 | 第37-38页 |
| 3.4.4 串口通信芯片的选型 | 第38-39页 |
| 3.4.5 气压传感器的选型 | 第39-40页 |
| 3.4.6 采样/保持芯片的选型 | 第40-41页 |
| 3.4.7 LCD显示器的选型 | 第41-43页 |
| 3.4.8 电控阀的选型 | 第43页 |
| 3.4.9 泄气电磁阀的选型 | 第43页 |
| 3.4.10 限位开关的选型 | 第43页 |
| 3.4.11 直流继电器的选型 | 第43页 |
| 3.4.12 开关电源的选型 | 第43页 |
| 3.4.13 打印机的选型 | 第43-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 4 软件系统设计 | 第45-59页 |
| 4.1 单片机测试部分软件编程平台与程序烧写 | 第45-48页 |
| 4.2 单片机程序设计 | 第48-55页 |
| 4.2.1 单片机主程序设计思路 | 第48-50页 |
| 4.2.2 单片机初始化程序设计 | 第50-54页 |
| 4.2.3 系统测试数据的采集与计算 | 第54-55页 |
| 4.3 上位机程序设计 | 第55-58页 |
| 4.3.1 系统登录方法 | 第55-56页 |
| 4.3.2 线路定义 | 第56-57页 |
| 4.3.3 UART0通信模块 | 第57-58页 |
| 4.3.4 DAC模块程序 | 第58页 |
| 4.3.5 ADC模块程序 | 第58页 |
| 4.3.6 控制算法模块程序 | 第58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 5 测试系统实测 | 第59-61页 |
| 5.1 现场测试步骤 | 第59-60页 |
| 5.2 测试与结果实现 | 第60页 |
| 5.3 本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 附录 | 第65-67页 |
