快充式多丝正比计数器的研制
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 第1章 引言 | 第11-17页 |
| ·课题研究意义 | 第11-12页 |
| ·多丝正比室研究现状 | 第12-15页 |
| ·课题来源 | 第15页 |
| ·2πα、2πβ粒子发射率标准装置主要技术指标 | 第15页 |
| ·本课题主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 快充式多丝正比计数器的工作原理 | 第17-30页 |
| ·多丝正比室的工作原理 | 第17-20页 |
| ·电场分布 | 第17-19页 |
| ·脉冲的放大和建立过程 | 第19-20页 |
| ·多丝正比室测量性能及影响因素 | 第20-25页 |
| ·主要性能 | 第20-22页 |
| ·阳极丝 | 第22-24页 |
| ·工作气体 | 第24-25页 |
| ·正比计数器用于电离辐射计量 | 第25-29页 |
| ·平面标准源 | 第25-27页 |
| ·α、β表面污染检定流程 | 第27-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 快充式多丝正比计数器硬件组成 | 第30-51页 |
| ·多丝正比室的制作 | 第31-38页 |
| ·多丝正比室基本结构 | 第33-34页 |
| ·阳极平面的制作 | 第34-35页 |
| ·阴极平面的分类和制作 | 第35-37页 |
| ·密封室 | 第37-38页 |
| ·清洁处理 | 第38页 |
| ·系统基本电路设计 | 第38-45页 |
| ·微控制器选择 | 第39页 |
| ·系统电源设计 | 第39-40页 |
| ·程控高压电源设计 | 第40-42页 |
| ·温湿度测量 | 第42-44页 |
| ·串口通信电路 | 第44页 |
| ·FLASH储存电路 | 第44-45页 |
| ·模拟电路设计 | 第45-48页 |
| ·前置电荷灵敏放大器 | 第45-46页 |
| ·脉冲成形电路 | 第46-48页 |
| ·快充式系统设计 | 第48-49页 |
| ·电磁干扰问题 | 第49-50页 |
| ·低本底铅室屏蔽 | 第50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 系统软件设计 | 第51-64页 |
| ·单片机应用程序软件总体设计 | 第51-53页 |
| ·计数程序 | 第53页 |
| ·人机接口程序 | 第53-56页 |
| ·液晶显示程序 | 第53-54页 |
| ·键盘处理程序 | 第54-56页 |
| ·128字节FLASH储存程序 | 第56-57页 |
| ·时钟程序 | 第57-58页 |
| ·温湿度测量程序 | 第58-59页 |
| ·上/下位机通讯程序 | 第59-63页 |
| ·单片机串口程序 | 第59-62页 |
| ·上位机应用程序介绍 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第5章 系统性能测试 | 第64-77页 |
| ·系统的安装和调试 | 第64-68页 |
| ·系统安装 | 第64-65页 |
| ·系统调试 | 第65-68页 |
| ·系统的测量方法 | 第68-71页 |
| ·测量操作流程 | 第68页 |
| ·计数结果校正 | 第68-71页 |
| ·测试结果 | 第71-76页 |
| ·实测α、β坪曲线 | 第71-73页 |
| ·本底 | 第73页 |
| ·探测效率 | 第73-75页 |
| ·重复性 | 第75页 |
| ·稳定性 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 结论 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第82-83页 |
| 附录A 装置实物照片 | 第83页 |
