| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-18页 |
| ·统计过程控制（ SPC ）的发展 | 第7-8页 |
| ·统计质量控制图基本理论 | 第8-13页 |
| ·质量控制图发展概述 | 第8-10页 |
| ·质量控制图基本概念 | 第10-12页 |
| ·EWMA 控制图策略 | 第12-13页 |
| ·自相关过程控制的国内外研究历史及现状 | 第13-15页 |
| ·本文研究内容及论文结构 | 第15-17页 |
| ·本文的创新点 | 第17-18页 |
| 第2章 自相关过程的多元控制图的现有工作 | 第18-24页 |
| ·自相关过程的时间序列模型 | 第18-20页 |
| ·自相关过程的多元控制图 | 第20-24页 |
| ·基于自回归T 2统计量的多元控制图 | 第21-22页 |
| ·基于观测的 GLRT 统计量的多元控制图 | 第22-24页 |
| 第3章 本文所提出的自相关过程的多元控制图的方法 | 第24-33页 |
| ·带方向的多元符号检验 | 第24-26页 |
| ·带方向的多元检验 | 第24-25页 |
| ·空间符号和符号检验 | 第25-26页 |
| ·基于空间符号的带方向的多元检验 | 第26页 |
| ·自相关过程的一种带方向的多元符号指数加权移动平均（ DMSEWMA ）控制图 | 第26-33页 |
| ·自相关过程的 DMSEWMA 控制图的检验统计量的构造 | 第26-28页 |
| ·自相关过程的 DMSEWMA 控制图的设计与实现 | 第28-33页 |
| 第4章 DMSEWMA控制图与其它自相关过程的多元控制图的性能比较 | 第33-40页 |
| ·可控平均运行长度（ IC-ARL）角度的比较 | 第33-36页 |
| ·失控平均运行长度（ OC-ARL）角度的比较 | 第36-40页 |
| 第5章 结论 | 第40-41页 |
| 参考文献 | 第41-45页 |
| 致谢 | 第45-46页 |
| 申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第46页 |
