| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-24页 |
| ·描述颗粒几何特征的两个基本参数 | 第12-15页 |
| ·颗粒的大小 | 第12-13页 |
| ·颗粒的形状 | 第13-15页 |
| ·颗粒大小测量的主要方法 | 第15-18页 |
| ·机械法 | 第15-16页 |
| ·波动特性法 | 第16-17页 |
| ·电传感法 | 第17页 |
| ·其它方法 | 第17-18页 |
| ·颗粒形状测量的主要方法 | 第18页 |
| ·光散射法测定颗粒大小与形状的优点 | 第18-19页 |
| ·光散射法颗粒大小与形状分析仪器的现状 | 第19-20页 |
| ·本论文研究的主要内容 | 第20页 |
| ·本章符号列表 | 第20-21页 |
| 参考文献 | 第21-24页 |
| 第二章 光散射法测量颗粒大小的原理与数值方法 | 第24-44页 |
| ·光散射式激光粒度仪的基本原理 | 第24-27页 |
| ·光散射式激光粒度仪的组成 | 第24页 |
| ·光散射式粒度仪的计算公式 | 第24-27页 |
| ·颗粒对光的散射、吸收与消光 | 第27-29页 |
| ·颗粒的光散射理论 | 第29-34页 |
| ·相关散射与不相关散射 | 第29页 |
| ·单散射与复散射 | 第29-30页 |
| ·颗粒的散射谱 | 第30-32页 |
| ·Mie散射公式 | 第32-34页 |
| ·Mie散射算法与数值计算 | 第34-40页 |
| ·Mie散射算法 | 第34-38页 |
| ·非吸收性球形颗粒的散射光强数值计算 | 第38-39页 |
| ·吸收性球形颗粒的散射光强数值计算 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40页 |
| ·本章符号列表 | 第40-41页 |
| 参考文献 | 第41-44页 |
| 第三章 光散射法测量颗粒大小的模拟 | 第44-53页 |
| ·模拟研究的方案设计 | 第44-45页 |
| ·模拟流程 | 第44-45页 |
| ·计算机模拟中反求结果的评价 | 第45页 |
| ·散射光谱模拟 | 第45-48页 |
| ·散射光强的数值模拟 | 第45-46页 |
| ·光能列向量的数值模拟 | 第46-48页 |
| ·光能系数矩阵 | 第48-50页 |
| ·粒度反演 | 第50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| ·本章符号列表 | 第51页 |
| 参考文献 | 第51-53页 |
| 第四章 独立模式粒度反演算法改进 | 第53-70页 |
| ·反问题与不适定性 | 第53页 |
| ·基本粒度反演算法 | 第53-57页 |
| ·非独立模式解法 | 第54-55页 |
| ·独立模式解法 | 第55-57页 |
| ·Philips-Twomey算法 | 第55-56页 |
| ·Chahine迭代算法 | 第56-57页 |
| ·Projection迭代算法 | 第57页 |
| ·独立模式反演算法模拟研究 | 第57-63页 |
| ·NNPT算法模拟 | 第57-59页 |
| ·Chahine算法模拟 | 第59-60页 |
| ·Projection算法模拟 | 第60-62页 |
| ·算法比较 | 第62-63页 |
| ·提高反演分辨率的模拟研究 | 第63-66页 |
| ·反演粒级数与分辨率 | 第63-64页 |
| ·平滑矩阵法对迭代法的改进 | 第64-65页 |
| ·改进迭代算法的反演模拟 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| ·本章符号列表 | 第67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 第五章 激光粒度仪的非理想聚焦问题 | 第70-77页 |
| ·非理想聚焦的数学模型 | 第70-71页 |
| ·非理想聚焦的散射光强模拟 | 第71页 |
| ·非理想聚焦对激光粒度仪的粒度反演的影响 | 第71-73页 |
| ·单分散系 | 第72-73页 |
| ·多分散系 | 第73页 |
| ·非理想聚焦对粒度反演影响趋势的原因分析 | 第73-74页 |
| ·非理想聚焦的软件校正 | 第74-75页 |
| ·本章小结 | 第75页 |
| ·本章符号列表 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-77页 |
| 第六章 光散射法表征颗粒形状的原理与数值模拟 | 第77-92页 |
| ·夫朗和费衍射与傅里叶变换 | 第77-79页 |
| ·夫朗和费衍射的傅里叶变换式 | 第77-78页 |
| ·透镜的傅里叶变换特性 | 第78-79页 |
| ·不同形状颗粒的衍射谱的模拟 | 第79-80页 |
| ·不同形状颗粒在激光粒度仪中的等效球径 | 第80-81页 |
| ·测量颗粒形状的检测器 | 第81-82页 |
| ·光能的相关系数谱表征颗粒形状 | 第82-85页 |
| ·相关系数表征颗粒形状的数学模型 | 第82-83页 |
| ·颗粒形状的相关系数识别方法 | 第83-85页 |
| ·频谱分析法研究颗粒的形状分布 | 第85-89页 |
| ·不同形状颗粒在楔形检测器上光能的数值模拟 | 第86-87页 |
| ·楔形检测器上光能的频谱分析 | 第87-88页 |
| ·形状分布的反演方法与模拟 | 第88-89页 |
| ·本章小结 | 第89-90页 |
| ·本章符号列表 | 第90页 |
| 参考文献 | 第90-92页 |
| 第七章 光散射法颗粒大小与形状分析装置硬件选型与设计 | 第92-102页 |
| ·Fourier变换光学系统选取 | 第93页 |
| ·激光发生器选型 | 第93-94页 |
| ·光学元件选型 | 第94页 |
| ·检测器件的选择与处理 | 第94-97页 |
| ·CCD | 第95页 |
| ·CMOS | 第95-96页 |
| ·高档CMOS-FUGA15d | 第96-97页 |
| ·CMOS实际使用的技术要点 | 第97页 |
| ·样品池的设计 | 第97-98页 |
| ·焦距可变的工作台设计 | 第98页 |
| ·循环分散采样系统 | 第98-99页 |
| ·配套计算机选型 | 第99页 |
| ·仪器实物整合 | 第99-100页 |
| ·本章小结 | 第100页 |
| 参考文献 | 第100-102页 |
| 第八章 光散射法颗粒大小与形状分析系统软件编制 | 第102-113页 |
| ·软件开发的阶段划分 | 第102页 |
| ·软件的开发环境和工具 | 第102-103页 |
| ·软件的结构设计与实现 | 第103-111页 |
| ·设定模块 | 第104页 |
| ·数据采集模块 | 第104-107页 |
| ·计算模块 | 第107页 |
| ·结果显示模块 | 第107-109页 |
| ·标定模块 | 第109页 |
| ·数据库管理模块 | 第109-110页 |
| ·操作帮助模块 | 第110-111页 |
| ·本章小结 | 第111-112页 |
| ·本章符号列表 | 第112页 |
| 参考文献 | 第112-113页 |
| 第九章 光散射法颗粒大小与形状的实际测量 | 第113-120页 |
| ·CMOS标定 | 第113-114页 |
| ·标准粒子板的粒度测量 | 第114-115页 |
| ·实际粉体的粒度测量 | 第115-117页 |
| ·标准形状粒子板的实际测量 | 第117-118页 |
| ·晶体形状的光散射法检测 | 第118页 |
| ·本章小结 | 第118-119页 |
| ·本章符号列表 | 第119-120页 |
| 第十章 结论与展望 | 第120-122页 |
| ·结论 | 第120-121页 |
| ·展望 | 第121-122页 |
| 附录 | 第122-125页 |
| 致谢 | 第125页 |