| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-31页 |
| ·铁电体及其基本性质 | 第12-16页 |
| ·铁电材料的分类 | 第16-18页 |
| ·多铁性材料 | 第18-21页 |
| ·多铁性材料的特性 | 第19-20页 |
| ·典型单相多铁材料BiFeO_3 | 第20-21页 |
| ·铁电薄膜材料的应用及发展 | 第21-27页 |
| ·铁电薄膜材料的应用 | 第21-24页 |
| ·铁电薄膜材料的发展历史 | 第24-25页 |
| ·铁电薄膜的国内外发展现状 | 第25-27页 |
| ·铁电陶瓷块体材料的应用及其织构化 | 第27-29页 |
| ·铁电陶瓷块体材料 | 第27页 |
| ·铁电陶瓷织构化 | 第27-29页 |
| ·本课题的研究对象及主要内容 | 第29-31页 |
| ·研究对象的选择 | 第29-30页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第30-31页 |
| 第2章 实验方案设计和研究方法 | 第31-38页 |
| ·原料及有关仪器设备 | 第31-32页 |
| ·溶胶-凝胶法制备薄膜 | 第32-36页 |
| ·NaCl基片的处理 | 第32页 |
| ·CSBT及BFO薄膜的形成 | 第32-34页 |
| ·CSBT及BFO模板膜的制备 | 第34页 |
| ·CSBT及BFO铁电陶瓷粉体的制备 | 第34-35页 |
| ·CSBT及BFO铁电陶瓷块体的成型 | 第35-36页 |
| ·薄膜表征方法 | 第36-38页 |
| ·差示扫描量热与热重分析(DSC-TG) | 第36页 |
| ·X-射线衍射(XRD) | 第36-37页 |
| ·SEM分析 | 第37页 |
| ·原子力显微表征 | 第37-38页 |
| 第3章 NACL基片的分析与表征 | 第38-43页 |
| ·NACL基片的XRD分析 | 第38页 |
| ·NACL基片的SEM表征 | 第38-39页 |
| ·衬底与薄膜之间的晶格适配分析 | 第39-41页 |
| ·衬底与薄膜之间的应力对薄膜择优生长取向的影响 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 NACL(100)基片上CSBT铁电薄膜及织构化陶瓷的制备 | 第43-52页 |
| ·不同的匀胶速度对模板膜的影响 | 第43-44页 |
| ·热解温度对模板膜的影响 | 第44-45页 |
| ·退火温度对模板膜的影响 | 第45-46页 |
| ·退火时间对模板膜的影响 | 第46-47页 |
| ·薄膜与衬底间内应力分析 | 第47-48页 |
| ·表面形貌及断面分析 | 第48-49页 |
| ·模板膜法制备CSBT铁电材料 | 第49-51页 |
| ·本章结论 | 第51-52页 |
| 第5章 NACL(100)基片上BFO铁电薄膜的制备 | 第52-57页 |
| ·BFO粉体的差热-热重分析 | 第52-53页 |
| ·溶液浓度对BFO薄膜的影响 | 第53-54页 |
| ·匀胶速度对BFO薄膜的影响 | 第54-55页 |
| ·退火温度对BFO薄膜的影响 | 第55-56页 |
| ·BFO铁电薄膜的形貌和断面分析 | 第56页 |
| ·本章结论 | 第56-57页 |
| 第6章 结论 | 第57-59页 |
| ·主要研究成果 | 第57页 |
| ·待解决问题 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 后记 | 第63-64页 |
| 攻读硕士学位期间论文发表及科研情况 | 第64页 |