FDD-LTE射频终端综合测试系统设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·研究背景与意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究和产品现状 | 第11-13页 |
| ·本文的主要研究内容和章节安排 | 第13-15页 |
| 第二章 FDD-LTE测试系统关键技术研究 | 第15-28页 |
| ·LTE技术基础 | 第15-20页 |
| ·OFDM技术 | 第17-18页 |
| ·循环前缀(CP) | 第18-19页 |
| ·MIMO技术 | 第19-20页 |
| ·LTE关键技术在FDD-LTE测试系统中的应用 | 第20页 |
| ·LTE终端测试关键指标 | 第20-24页 |
| ·LTE终端测试关键指标概述 | 第21页 |
| ·工业化生产FDD-LTE射频测试关键指标 | 第21-24页 |
| ·工业化生产FDD-LTE射频测试的特点 | 第21-22页 |
| ·工业化生产中的LTE终端射频测试关键指标 | 第22-24页 |
| ·LTE测试系统关键指标 | 第24-26页 |
| ·FDD-LTE测试系统原理 | 第24-25页 |
| ·FDD-LTE测试系统的关键技术 | 第25-26页 |
| ·FDD-LTE测试系统关键指标 | 第26页 |
| ·小结 | 第26-28页 |
| 第三章 FDD-LTE测试系统设计思路与方案选择 | 第28-39页 |
| ·FDD-LTE测试系统设计思路 | 第28-34页 |
| ·FDD-LTE需求分析 | 第28-29页 |
| ·FDD-LTE测试系统设计目标 | 第29-30页 |
| ·FDD-LTE测试系统可行性方案选择 | 第30-32页 |
| ·方案一:集成式测试系统开发方案 | 第30页 |
| ·方案二:LabVIEW式测试系统开发方案 | 第30页 |
| ·方案三:模块式测试系统开发方案 | 第30-31页 |
| ·FDD-LTE测试系统方案选择 | 第31-32页 |
| ·FDD-LTE测试系统设计原理 | 第32-33页 |
| ·FDD-LTE测试系统总体结构 | 第33-34页 |
| ·程序配置模块的设计 | 第34-35页 |
| ·测试应用程序模块的设计 | 第35-37页 |
| ·仪器调用模块的设计 | 第37-38页 |
| ·数据存储模块的设计 | 第38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第四章 FDD-LTE测试系统的开发与实现 | 第39-63页 |
| ·软件开发环境和关键技术概述 | 第39-42页 |
| ·开发工具 | 第39页 |
| ·关键技术概述 | 第39-42页 |
| ·接口技术 | 第39-41页 |
| ·COM技术 | 第41页 |
| ·虚拟仪器软件结构 | 第41-42页 |
| ·XML技术 | 第42页 |
| ·可编程仪器标准命令(SCPI) | 第42页 |
| ·程序设置模块关键技术实现 | 第42-47页 |
| ·测试站信息的设置 | 第42-44页 |
| ·测试站线损的设置 | 第44-46页 |
| ·测试站测试脚本和规范的设置 | 第46-47页 |
| ·测试站驱动程序管理 | 第47页 |
| ·测试应用程序模块关键技术实现 | 第47-52页 |
| ·测试站信息的读取 | 第49页 |
| ·测试脚本和规范的读取 | 第49-50页 |
| ·射频测试的实现 | 第50-52页 |
| ·仪器调用模块关健技术实现 | 第52-54页 |
| ·接口通信的实现 | 第52-53页 |
| ·仪器驱动模块的调用 | 第53页 |
| ·仪器驱动程序的开发实现 | 第53-54页 |
| ·数据存储模块关键技术实现 | 第54-57页 |
| ·本地数据存储的实现 | 第54-55页 |
| ·数据库的实现 | 第55-57页 |
| ·数据库系统在工业化生产中的作用 | 第55-56页 |
| ·FDD-LTE测试系统数据库设计 | 第56-57页 |
| ·FDD-LTE终端射频测试系统测试实例 | 第57-62页 |
| ·小结 | 第62-63页 |
| 第五章 FDD-LTE测量系统分析 | 第63-72页 |
| ·FDD-LTE测量系统的重复性再现性研究 | 第63-66页 |
| ·测量系统的重复性再现性研究 | 第63-64页 |
| ·FDD-LTE测试系统重复性再现性研究需求分析 | 第64-65页 |
| ·FDD-LTE测试系统重复性再现性研究测试流程 | 第65-66页 |
| ·FDD-LTE重复性再现性研究的实现 | 第66-71页 |
| ·数据采集 | 第66-67页 |
| ·数据分析 | 第67-69页 |
| ·测试系统改进 | 第69-71页 |
| ·小结 | 第71-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| ·总结与结论 | 第72-73页 |
| ·不足与展望 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76页 |