| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-18页 |
| ·4πβ-γ符合测试技术 | 第8-14页 |
| ·测量装置 | 第9页 |
| ·核参数法 | 第9-12页 |
| ·效率外推法 | 第12-13页 |
| ·效率示踪法 | 第13-14页 |
| ·γ能谱测试技术 | 第14-17页 |
| ·γ和X射线的发射 | 第14页 |
| ·γ和X射线谱仪及其响应 | 第14-15页 |
| ·γ和X射线谱仪的特性参数 | 第15-17页 |
| ·小结 | 第17-18页 |
| 第二章 井型电离室测量小体积γ源原理 | 第18-34页 |
| ·γ射线与物质的相互作用 | 第18-27页 |
| ·康普顿效应 | 第19-22页 |
| ·光电效应 | 第22-25页 |
| ·(电子)对生成(PAIR PRODUCTION) | 第25页 |
| ·瑞利(相干)散射 | 第25-26页 |
| ·光核相互作用 | 第26页 |
| ·减弱、能量转移和能量吸收的总的系数 | 第26-27页 |
| ·电离室 | 第27-31页 |
| ·气体的电离与激发 | 第27-28页 |
| ·气体中离子运动的规律性离子的漂移 | 第28-30页 |
| ·离子的扩散离子的复合负离子的形成 | 第30-31页 |
| ·电离室的工作原理 | 第31-33页 |
| ·气体探测器的电流—电压特性曲线 | 第31-32页 |
| ·电离室的构造 | 第32-33页 |
| ·电离室的电离电流 | 第33页 |
| ·小结 | 第33-34页 |
| 第三章 弱电流测量技术 | 第34-44页 |
| ·弱电流测量仪器及其技术原理 | 第34-36页 |
| ·电流测量模式下的弱电流测量原理 | 第34-35页 |
| ·电荷测量模式下的弱电流测量原理 | 第35-36页 |
| ·弱电流测量中的影响因素及有关考虑 | 第36-38页 |
| ·干扰与线路连接 | 第36-38页 |
| ·其它误差来源及其对策 | 第38-41页 |
| ·噪声分析及其抑制 | 第38-41页 |
| ·输入失调电流和零点漂移 | 第41页 |
| ·环境因素 | 第41-42页 |
| ·测量系统的信号上升时间和测量速度 | 第42-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第四章 测量系统组成以及性能测试 | 第44-51页 |
| ·测量系统组成 | 第44-46页 |
| ·系统性能技术指标 | 第46-50页 |
| ·电离室饱和损失 | 第46-47页 |
| ·系统量程的非线性 | 第47页 |
| ·源几何位置的影响 | 第47-48页 |
| ·源几何吸收效应影响 | 第48-49页 |
| ·系统重复性 | 第49页 |
| ·系统稳定性 | 第49页 |
| ·系统技术指标 | 第49-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 第五章 不确定度评定及量值溯源方法研究 | 第51-56页 |
| ·不确定度评定 | 第51-53页 |
| ·数学模型 | 第51页 |
| ·输入量的标准不确定度评定 | 第51-52页 |
| ·合成不确定度的评定 | 第52页 |
| ·相对扩展不确定度的评定 | 第52-53页 |
| ·量值溯源方法研究 | 第53-55页 |
| ·量值溯源方案之一：送检/校准 | 第53-54页 |
| ·量值溯源方案之二：上级标准到现场量值传递 | 第54页 |
| ·量值溯源方案之三：比对测量法 | 第54页 |
| ·量值溯源方案选择 | 第54页 |
| ·4πγ电离室测量装置量值溯源 | 第54-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第六章 总结 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 附表 | 第63页 |