| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 插图索引 | 第11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-25页 |
| ·研究背景 | 第12-13页 |
| ·石英晶体振荡器简介 | 第13-17页 |
| ·石英晶体谐振器介绍 | 第13页 |
| ·石英晶体谐振器的等效电路 | 第13-15页 |
| ·石英晶体谐振器的切型介绍 | 第15-17页 |
| ·温度补偿晶体振荡器 | 第17-21页 |
| ·石英晶体的分类 | 第17-18页 |
| ·温度补偿晶体振荡器 | 第18-21页 |
| ·温度补偿晶体振荡器的测量系统简介 | 第21-23页 |
| ·温补晶振的测量内容 | 第21-22页 |
| ·影响 UK—T 曲线快速测量的因素 | 第22页 |
| ·温度补偿晶体振荡器的测量方式 | 第22-23页 |
| ·温补晶振自动测量方法 | 第23页 |
| ·微机补偿晶体振荡器自动测量系统的发展现状 | 第23-24页 |
| ·本文研究内容 | 第24-25页 |
| 第2章 微机补偿晶体振荡器自动测量系统设计 | 第25-45页 |
| ·系统的总体设计 | 第25-26页 |
| ·系统框图及其工作基本原理 | 第25-26页 |
| ·微机补偿晶体振荡器 | 第26-28页 |
| ·4220MR 高低温测试箱介绍 | 第28-31页 |
| ·通过 RS-232C 接口控制 4220MR 高低温测试箱 | 第28-31页 |
| ·高精密频率计 | 第31-32页 |
| ·测量原理 | 第31页 |
| ·通过 RS-232C 总线接口控制 HD-2000 型频率计 | 第31-32页 |
| ·主控板电路设计 | 第32-44页 |
| ·主控板概述 | 第32-33页 |
| ·C8051F061 概述 | 第33-35页 |
| ·SMBus 总线 | 第35-39页 |
| ·URAT0 | 第39-40页 |
| ·频率源 | 第40-41页 |
| ·JTAG | 第41页 |
| ·URAT 通信接口电平转换 | 第41-42页 |
| ·频率测量控制和晶振状态控制 | 第42-43页 |
| ·主控板 PCB 可靠性设计 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第3章 系统软件设计 | 第45-59页 |
| ·整体概述 | 第45-46页 |
| ·上位机程序 | 第46-48页 |
| ·系统初始化 | 第46-47页 |
| ·测量 Uc-T 曲线功能 | 第47页 |
| ·老化微调功能 | 第47-48页 |
| ·频率微调功能 | 第48页 |
| ·数据处理与存储 | 第48页 |
| ·MCXO 程序 | 第48-51页 |
| ·MCXO 调试程序 | 第49-51页 |
| ·MCXO 工作程序 | 第51页 |
| ·主控单片机程序 | 第51-54页 |
| ·主控单片机程序概述 | 第51-52页 |
| ·主控单片机与上位机通信 | 第52-53页 |
| ·主控单片机与 MCXO 通信 | 第53页 |
| ·控制 MCXO 状态和选通指定 MCXO | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-59页 |
| 第4章 样机测试结果与系统功能测试 | 第59-62页 |
| ·系统功能测试机及操作 | 第59页 |
| ·系统自动测量 MCXO 的补偿效果 | 第59-62页 |
| 结论与展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 附录A 攻读学位期间发表论文 | 第69页 |