| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-27页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·纳米线的概述 | 第10-15页 |
| ·纳米线的特性 | 第11-13页 |
| ·纳米线的分类 | 第13-15页 |
| ·纳米线的组装及其在分析检测中的应用 | 第15-22页 |
| ·纳米线组装方法简介 | 第15-19页 |
| ·纳米线用于生物物质以及化学离子的检测 | 第19-22页 |
| ·介电泳技术用于纳米材料操控的研究现状和发展趋势 | 第22-25页 |
| ·介电泳技术简介 | 第22-23页 |
| ·介电泳技术应用于纳米材料操控研究 | 第23-25页 |
| ·本论文构思 | 第25-27页 |
| 第2章 基于介电泳的微流控芯片体系内SiO_2 纳米颗粒自组装行为研究 | 第27-40页 |
| ·前言 | 第27-28页 |
| ·实验部分 | 第28-30页 |
| ·试剂和仪器 | 第28-29页 |
| ·实验方法 | 第29-30页 |
| ·结果与讨论 | 第30-39页 |
| ·微流控芯片体系的搭建 | 第30-32页 |
| ·SiO_2 硅纳米颗粒的尺寸和表面ζ电势的表征 | 第32-33页 |
| ·流体流速对SiO_2 荧光纳米颗粒介电泳自组装行为的影响 | 第33-34页 |
| ·电场条件对SiO_2 荧光纳米颗粒介电泳自组装行为的影响 | 第34-36页 |
| ·微流控芯片体系中SiO_2 纳米线型结构的介电泳自组装 | 第36-37页 |
| ·微流控芯片体系中SiO_2 纳米线型结构组装的可控及可逆性考察 | 第37-38页 |
| ·微流控芯片体系中 SiO_2 纳米颗粒在不同分散介质中的介电泳自组装行为研究 | 第38-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 第3章 基于介电泳自组装的SiO_2 纳米线型结构性质研究 | 第40-56页 |
| ·前言 | 第40页 |
| ·实验部分 | 第40-44页 |
| ·仪器和试剂 | 第40-41页 |
| ·实验方法 | 第41-44页 |
| ·结果与讨论 | 第44-54页 |
| ·不同离子的溶液对微流控体系中自组装 SiO_2 纳米线型结构形貌与阻抗的影响 | 第44-50页 |
| ·不同离子强度溶液对微流控体系中自组装 SiO_2 纳米线型结构阻抗的考察 | 第50-53页 |
| ·溶液pH 值对微流控体系中自组装SiO_2 纳米线型结构阻抗的影响 | 第53-54页 |
| ·小结 | 第54-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第65页 |
