| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| ·铁电材料概述 | 第8-9页 |
| ·铁电聚合物 | 第9-10页 |
| ·铁电复合材料 | 第10-11页 |
| ·铁电材料的应用 | 第11-13页 |
| ·铁电存储器 | 第11-12页 |
| ·基于P(VDF-TrFE)的铁电存储器 | 第12-13页 |
| ·铁电薄膜的功能退化 | 第13-15页 |
| ·极化疲劳 | 第13-14页 |
| ·印记失效 | 第14页 |
| ·数据保持性能丧失 | 第14-15页 |
| ·论文主要内容和结构 | 第15-16页 |
| 第二章 铁电薄膜的制备和表征 | 第16-27页 |
| ·铁电薄膜样品的制备 | 第16-17页 |
| ·铁电薄膜的结构表征 | 第17-18页 |
| ·原子力显微镜(AFM) | 第17-18页 |
| ·形貌表征 | 第17-18页 |
| ·薄膜厚度测量 | 第18页 |
| ·X射线衍射(XRD) | 第18页 |
| ·铁电薄膜的电学表征 | 第18-23页 |
| ·电学测试实验装置 | 第18-19页 |
| ·极化翻转电流和电滞回线 | 第19-22页 |
| ·铁电薄膜的极化翻转时间 | 第22-23页 |
| ·讨论 | 第23-26页 |
| ·矫顽电压的确定 | 第23页 |
| ·三角波测量电压的参数选择 | 第23-25页 |
| ·测量频率 | 第24页 |
| ·电压 | 第24-25页 |
| ·极化翻转时间的双脉冲测量和单脉冲测量 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 铁电复合材料研究 | 第27-39页 |
| ·铁电复合材料制备 | 第27-28页 |
| ·AFM形貌表征 | 第28-30页 |
| ·X射线衍射谱 | 第30-31页 |
| ·电学表征 | 第31-35页 |
| ·P(VDF-TrFE)及其复合薄膜的极化翻转电流 | 第31页 |
| ·P(VDF-TrFE)及其复合薄膜的电滞回线 | 第31-32页 |
| ·P(VDF-TrFE)及其复合薄膜的疲劳过程 | 第32-34页 |
| ·P(VDF-TrFE)及其复合薄膜的漏电流特性 | 第34-35页 |
| ·P(VDF-TrFE)及其复合薄膜的极化翻转时间 | 第35页 |
| ·讨论 | 第35-38页 |
| ·极化疲劳 | 第35-37页 |
| ·PMMA/P(VDF-TrFE)复合薄膜的矫顽电压 | 第37页 |
| ·复合材料的极化翻转时间降低 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 铁电复合材料的内建电场研究 | 第39-44页 |
| ·实验 | 第39-40页 |
| ·实验结果 | 第40-42页 |
| ·矫顽电压漂移 | 第40-41页 |
| ·剩余极化强度衰减 | 第41-42页 |
| ·讨论 | 第42-43页 |
| ·界面屏蔽模型 | 第42-43页 |
| ·P(VDF-TrFE)及其复合材料中的内建电场 | 第43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 附录 铁电薄膜电学测试程序 | 第44-58页 |
| 1. 程序功能 | 第44-51页 |
| ·程序界面介绍 | 第44-46页 |
| ·极化疲劳测试 | 第46-49页 |
| ·疲劳实验过程示例 | 第47-49页 |
| ·内建电场测试程序 | 第49-51页 |
| ·波形编辑 | 第50页 |
| ·操作实例 | 第50-51页 |
| 2 铁电薄膜测试程序开发 | 第51-58页 |
| ·仪器控制模块开发 | 第51-55页 |
| ·示波器数据采集 | 第51-52页 |
| ·信号发生器波形产生 | 第52页 |
| ·将自编波形写入存储器 | 第52-53页 |
| ·计时 | 第53页 |
| ·实验参数保存 | 第53页 |
| ·疲劳测试过程中的仪器控制 | 第53-54页 |
| ·内建电场测试的仪器控制 | 第54-55页 |
| ·数据处理模块 | 第55-58页 |
| ·疲劳过程中电流响应校正 | 第55-56页 |
| ·疲劳过程中的电滞回线 | 第56页 |
| ·电滞回线的剩余极化强度和矫顽电压测量 | 第56页 |
| ·极化翻转时间的计算 | 第56-57页 |
| ·内建电场测试中的电流校正 | 第57-58页 |
| 总结 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
