中文摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第1章 引言 | 第9-19页 |
·电阻率成像(RT)技术的基本概念 | 第9页 |
·国内外研究进展 | 第9-14页 |
·电阻率成像技术的历史 | 第9-10页 |
·电阻率成像正、反演技术的研究进展 | 第10-13页 |
·电阻率成像技术的发展趋势 | 第13-14页 |
·课题研究的目的与意义 | 第14-16页 |
·存在的问题 | 第16页 |
·主要研究内容 | 第16-17页 |
·主要创新性研究成果 | 第17-18页 |
·论文章节结构 | 第18-19页 |
第2章 电阻率法的基本理论 | 第19-26页 |
·电阻率法的基本原理 | 第19-20页 |
·视电阻率的基本概念 | 第20-22页 |
·二维问题的视电阻率 | 第22-23页 |
·常用的地表装置及井-地装置类型 | 第23-26页 |
·常用的地表装置类型 | 第23-24页 |
·井-地装置类型 | 第24-26页 |
第3章 电阻率成像技术的正演理论 | 第26-51页 |
·有限差分法 | 第26-34页 |
·正交五点有限差分格式 | 第28-31页 |
·点源场三维有限差分格式 | 第31页 |
·边值问题 | 第31-34页 |
·有限元方法 | 第34-51页 |
·点源二维电场有限元方法 | 第34-44页 |
·点源三维电场有限元方法 | 第44-48页 |
·起伏地形问题 | 第48-51页 |
第4章 电阻率成像技术的反演理论 | 第51-60页 |
·ZOHDY反演方法 | 第51-53页 |
·二维电阻率反演中改进的ZOHDY-BARKER方法 | 第53-55页 |
·平滑约束最小二乘法和QUASI-NEWTON法 | 第55-60页 |
·平滑约束最小二乘法(GAUSS-NEWTON法) | 第55页 |
·视电阻率对模型电阻率的偏导数矩阵 | 第55-57页 |
·QUASI-NEWTON法 | 第57-58页 |
·块反演法(BLOCKY INVERSION METHOD) | 第58页 |
·平滑约束反演和块反演方法的比较 | 第58-60页 |
第5章 不同装置的分辨力及异常响应特征研究 | 第60-85页 |
·不同装置的分辨力特点和异常响应特征 | 第60-70页 |
·不同装置在纵向水平产状组合模型上的分辨率和异常响应特征 | 第60-66页 |
·不同装置在横向直立产状组合模型上的分辨率和异常响应特征 | 第66-69页 |
·小结 | 第69-70页 |
·地表三维电阻率成像 | 第70-85页 |
·三维电阻率勘探常用的排列类型 | 第71-72页 |
·三维模型的正演数值模拟和反演 | 第72-85页 |
第6章 井-地装置电阻率成像技术模型异常响应研究 | 第85-110页 |
·井-地二维电阻率正演数值模拟及反演 | 第85-100页 |
·均匀半空间线电源电位分布的有限元数值模拟 | 第85-87页 |
·井-地装置的模型计算和反演 | 第87-93页 |
·跨孔装置的模型计算与反演 | 第93-100页 |
·井-地装置三维电阻率正演数值模拟及反演 | 第100-110页 |
第7章 结论与建议 | 第110-112页 |
致谢 | 第112-113页 |
参考文献 | 第113-122页 |
附录 | 第122页 |