| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 1. 绪论 | 第10-18页 |
| ·课题来源和研究背景 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状及发展趋势 | 第11-15页 |
| ·X射线实时成像技术国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·X射线成像技术的发展趋势 | 第13-14页 |
| ·X射线像增强器国内外研究现状 | 第14-15页 |
| ·问题分析及解决方案的提出 | 第15-16页 |
| ·问题分析 | 第15页 |
| ·问题解决方案的提出 | 第15-16页 |
| ·研究内容与技术途径 | 第16-18页 |
| ·研究目标 | 第16页 |
| ·研究内容 | 第16-17页 |
| ·论文结构安排 | 第17-18页 |
| 2. X射线像增强器原理分析 | 第18-30页 |
| ·二代像增强器简介 | 第18页 |
| ·X射线像增强器结构及工作原理 | 第18-19页 |
| ·X射线阴极 | 第19-22页 |
| ·X射线阴极的特点 | 第19-20页 |
| ·CsI/MCP反射式X光阴极 | 第20-21页 |
| ·窗材料/阴极透射式X射线阴极 | 第21-22页 |
| ·微通道板(MCP) | 第22-25页 |
| ·MCP的工作原理 | 第22-23页 |
| ·MCP的特性 | 第23-24页 |
| ·X射线像增强器的MCP特点 | 第24-25页 |
| ·荧光屏 | 第25-26页 |
| ·X射线像增强器涉及的性能指标包括 | 第26-28页 |
| ·X射线像增强器疲劳效应与输入照度之间的关系 | 第28-29页 |
| ·光电阴极疲劳 | 第28-29页 |
| ·MCP的疲劳 | 第29页 |
| ·荧光屏的疲劳 | 第29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 3. 高分辨率X射线成像系统设计 | 第30-42页 |
| ·系统结构设计 | 第30-37页 |
| ·系统主要器件介绍 | 第30-37页 |
| ·系统中光锥与CCD的耦合 | 第37-41页 |
| ·光锥对成像系统的影响 | 第38-39页 |
| ·光锥与 CCD 的耦合方式 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 4. 成像系统性能测试研究 | 第42-70页 |
| ·系统空间分辨率测试 | 第43-48页 |
| ·实时成像系统分辨率的测试方法 | 第43-44页 |
| ·影响X射线成像系统分辨率的因素分析 | 第44-48页 |
| ·系统透度灵敏度测试 | 第48-50页 |
| ·系统动态范围及响应均匀性测试 | 第50-51页 |
| ·系统所成图像灰度均值与像增强器微通道板电压的关系 | 第51-54页 |
| ·系统的MTF测试 | 第54-61页 |
| ·成像系统的调制传递函数(MTF)的定义 | 第54-57页 |
| ·系统的MTF测试 | 第57-61页 |
| ·系统成像最佳放大倍数和最小检出缺陷尺寸分析 | 第61-67页 |
| ·最佳放大倍数 | 第61-65页 |
| ·系统可检出的最小缺陷尺寸分析 | 第65-67页 |
| ·小焦点X射线源的作用及其制约因素 | 第67页 |
| ·系统在微缺陷检测技术中的应用 | 第67-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 5. 图像质量评价方法研究及系统成像质量评价 | 第70-81页 |
| ·图像质量评价概述 | 第70页 |
| ·像质评价的一般方法 | 第70-73页 |
| ·图像的主观质量评价方法 | 第70页 |
| ·图像的客观质量评价方法 | 第70-73页 |
| ·基于梯度幅度值的图像质量评价方法的可行性 | 第73-77页 |
| ·图像灰度函数的梯度幅度值 | 第73-74页 |
| ·基于梯度幅度值的图像客观评价指标的确立 | 第74-75页 |
| ·基于梯度幅度值的图像客观评价方法的验证及分析 | 第75-77页 |
| ·系统成像质量评价 | 第77-80页 |
| ·本章小结 | 第80-81页 |
| 6. 结论与展望 | 第81-83页 |
| ·本论文的工作总结 | 第81页 |
| ·进一步工作展望 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和研究成果 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88页 |