SD存储卡的设计和实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·当前市面上流行的存储卡特点 | 第8页 |
| ·市场规模和趋势 | 第8-9页 |
| ·课题简介及研究内容 | 第9页 |
| ·论文章节介绍 | 第9-11页 |
| 第二章 相关背景知识 | 第11-22页 |
| ·8051 技术相关知识 | 第11-14页 |
| ·标准8051 | 第11-13页 |
| ·增强8051 | 第13-14页 |
| ·通讯技术 | 第14-16页 |
| ·OSI-ISO 参考模型 | 第14-15页 |
| ·SD 物理层协议 | 第15-16页 |
| ·Nand Flash 存储技术 | 第16-19页 |
| ·组织形式 | 第16-18页 |
| ·固有特性 | 第18-19页 |
| ·功能需求和非功能需求 | 第19页 |
| ·SD 卡 | 第19-22页 |
| ·什么是SD 卡 | 第19-20页 |
| ·SD 卡的内部结构 | 第20-22页 |
| 第三章 SD 接口设计 | 第22-33页 |
| ·模块划分 | 第22-23页 |
| ·线上传输 | 第23-26页 |
| ·帧组成和同步 | 第24-25页 |
| ·差错控制 | 第25-26页 |
| ·流量控制 | 第26页 |
| ·应用协议 | 第26-33页 |
| ·状态机控制 | 第27-29页 |
| ·SD 定义的寄存器 | 第29-30页 |
| ·数据传输 | 第30页 |
| ·状态产生 | 第30-33页 |
| 第四章 Nand Flash 存储管理设计 | 第33-40页 |
| ·读写操作的接口需求 | 第33-34页 |
| ·地址映射 | 第34-37页 |
| ·物理空间 | 第34-35页 |
| ·逻辑空间 | 第35页 |
| ·地址映射函数 | 第35-36页 |
| ·管理单位 | 第36页 |
| ·偏移值的设计 | 第36页 |
| ·映射关系的建立和撤消 | 第36-37页 |
| ·映射关系的存储 | 第37页 |
| ·映射关系的使用 | 第37页 |
| ·操作映射 | 第37-39页 |
| ·冗余区数据设计 | 第39-40页 |
| 第五章 安全模块设计 | 第40-47页 |
| ·CPRM 协议 | 第40页 |
| ·C2 算法 | 第40-44页 |
| ·Feistel 算法 | 第41页 |
| ·C2 算法框架 | 第41-42页 |
| ·F 函数算法 | 第42-43页 |
| ·密钥生成算法 | 第43页 |
| ·混合左右两部分算法 | 第43-44页 |
| ·使用模式 | 第44页 |
| ·应用C2 搭建CPRM 安全系统 | 第44-46页 |
| ·Hash 函数 | 第45页 |
| ·一段函数(one-way function) | 第45-46页 |
| ·C2 与DES 的比较 | 第46-47页 |
| 第六章 系统实现 | 第47-57页 |
| ·系统架构 | 第47-48页 |
| ·开发环境 | 第48-51页 |
| ·基本模块实现 | 第51-57页 |
| ·Main 函数 | 第51-52页 |
| ·Interrupt 0 函数 | 第52页 |
| ·数据读操作 | 第52-55页 |
| ·数据写操作 | 第55-57页 |
| 第七章 测试结果及分析 | 第57-62页 |
| ·测试环境 | 第57页 |
| ·测试结果 | 第57-61页 |
| ·功能测试 | 第58-59页 |
| ·性能测试 | 第59-60页 |
| ·兼容性测试 | 第60-61页 |
| ·测试结果分析与改进 | 第61-62页 |
| 第八章 总结 | 第62-64页 |
| 附录A 寄存器定义 | 第64-69页 |
| 附录B 全局变量定义 | 第69-72页 |
| 参考文献 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第74页 |
