便携式X射线荧光仪在铁矿石选矿中的应用研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第1章 引言 | 第10-17页 |
·研究目的和意义 | 第10-13页 |
·铁矿石的现状和选矿工艺 | 第10-13页 |
·铁矿石分析方法 | 第13页 |
·XRF 分析技术的国内外研究现状 | 第13-16页 |
·X 射线荧光技术的应用发展 | 第13-14页 |
·几种先进的XRF 分析仪 | 第14-16页 |
·研究内容和主要成果 | 第16页 |
本章小结 | 第16-17页 |
第二章 X 荧光分析技术的理论基础 | 第17-25页 |
·X 射线的性质 | 第17-18页 |
·特征X 射线产生过程 | 第17-18页 |
·X 射线的吸收特性 | 第18页 |
·X 射线的散射特性 | 第18页 |
·X 射线荧光定量分析的基本方程 | 第18-21页 |
·定性分析 | 第19-20页 |
·定量分析 | 第20-21页 |
·数据处理与校正方法 | 第21-24页 |
·本底扣除和净峰面积的计算 | 第21-22页 |
·谱漂校正 | 第22-23页 |
·基体校正方法 | 第23-24页 |
本章小结 | 第24-25页 |
第三章 实验设备的选取与评价 | 第25-41页 |
·便携式X 荧光仪的工作原理及其结构 | 第25页 |
·X 射线探测器的选择 | 第25-30页 |
·正比计数器 | 第26-27页 |
·闪烁计数器 | 第27-28页 |
·半导体探测器 | 第28-29页 |
·各种探测器性能比较 | 第29-30页 |
·激发源的选取和最佳激发条件实验 | 第30-35页 |
·放射性同位素源 | 第30-31页 |
·X 射线管 | 第31-33页 |
·最佳激发条件的实验 | 第33-35页 |
·实验仪器的性能测试 | 第35-39页 |
·仪器读数的统计误差 | 第36页 |
·仪器精确度评价 | 第36-37页 |
·稳定性测量 | 第37-39页 |
·最佳测量时间检验 | 第39页 |
本章小结 | 第39-41页 |
第四章 样品的制备及影响因素的分析研究 | 第41-48页 |
·选矿流程中铁矿粉末样品的制备 | 第41-43页 |
·样品的预加工 | 第41-42页 |
·粉末制样方法 | 第42-43页 |
·影响因素分析研究 | 第43-47页 |
·水分效应的分析 | 第43页 |
·制样压力分析 | 第43-44页 |
·饱和厚度分析 | 第44-45页 |
·不均匀效应分析 | 第45-47页 |
本章小结 | 第47-48页 |
第五章 应用效果 | 第48-56页 |
·精矿中Fe 元素的标定 | 第48-50页 |
·一元回归结果 | 第48-49页 |
·三元回归结果 | 第49-50页 |
·中矿中Fe 元素的标定 | 第50-53页 |
·一元回归结果 | 第51-52页 |
·三元回归结果 | 第52-53页 |
·尾矿中Fe 元素的标定 | 第53-55页 |
·一元回归结果 | 第53-54页 |
·三元回归结果 | 第54-55页 |
本章小结 | 第55-56页 |
结论 | 第56-58页 |
致谢 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-60页 |