| 独创性声明 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·背景 | 第9-10页 |
| ·伪随机序列的发展简述 | 第10-11页 |
| ·本文的结构和主要工作 | 第11-13页 |
| 第二章 随机序列发生器概述及常用的随机序列发生器 | 第13-26页 |
| ·随机性的定义 | 第13-15页 |
| ·随机序列发生器的概述 | 第15-18页 |
| ·伪随机序列发生器的数学定义 | 第15-16页 |
| ·随机序列发生器的分类 | 第16-17页 |
| ·随机序列的产生过程 | 第17-18页 |
| ·常用伪随机序列发生器的研究和分析 | 第18-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于 Weierstrass函数的随机序列发生器 | 第26-34页 |
| ·引言 | 第26-27页 |
| ·基于Weierstrass函数产生的序列的随机性分析 | 第27-31页 |
| ·b≤1 序列{x_n}的随机性分析 | 第27-29页 |
| ·b>1序列{x_n}的随机性分析 | 第29-31页 |
| ·基于Weierstrass函数的随机序列发生器 | 第31-33页 |
| ·Weierstrass函数随机序列发生器的设计 | 第31-32页 |
| ·Weierstrass函数随机序列发生器的优点 | 第32-33页 |
| ·结论 | 第33-34页 |
| 第四章 Weierstrass随机序列发生器的随机性测试 | 第34-43页 |
| ·随机性测试概述 | 第34-35页 |
| ·Weierstrass随机序列随机性的统计检验 | 第35-41页 |
| ·频数检验 | 第36-37页 |
| ·序列检验 | 第37-38页 |
| ·扑克检验 | 第38-39页 |
| ·自相关检验 | 第39-40页 |
| ·游程检验 | 第40-41页 |
| ·结论 | 第41-43页 |
| 第五章 总结与展望 | 第43-45页 |
| ·总结 | 第43页 |
| ·展望 | 第43-45页 |
| 参考文献 | 第45-48页 |
| 致谢 | 第48页 |
