| 第一章 绪论 | 第1-20页 |
| 1．1 可测试性技术 | 第13-14页 |
| 1．2 电路的故障诊断技术 | 第14-17页 |
| 1．2．1 数字电路的故障诊断技术 | 第14-15页 |
| 1．2．2 模拟电路的故障诊断技术 | 第15页 |
| 1．2．3 数模混合电路的故障诊断技术 | 第15-17页 |
| 1．3 现有的电路故障诊断技术的不足 | 第17-18页 |
| 1．4 课题的来源及研究意义 | 第18页 |
| 1．5 课题前期研究工作总结 | 第18-20页 |
| 第二章 基于 DES理论的数模混合电路故障诊断技术 | 第20-28页 |
| 2．1 DES理论 | 第20-21页 |
| 2．1．1 离散事件 | 第20页 |
| 2．1．2 离散事件系统 | 第20-21页 |
| 2．2 电路的DES模型 | 第21-24页 |
| 2．2．1 状态分区 | 第22页 |
| 2．2．2 建立 DES模型 | 第22-24页 |
| 2．3 电路的可测试性 | 第24-25页 |
| 2．4 故障隔离率 | 第25-26页 |
| 2．5 电路的最小测试集 | 第26-28页 |
| 第三章 最小测试集的求取 | 第28-38页 |
| 3．1 移走法 | 第28-29页 |
| 3．2 模拟退火法 | 第29-30页 |
| 3．3 基于图论的方法 | 第30-31页 |
| 3．4 转化为去除冗余方程的方法 | 第31-36页 |
| 3．4．1 算法的方案 | 第31-32页 |
| 3．4．2 算法的流程图 | 第32-33页 |
| 3．4．3 寻找非冗余方程 | 第33-35页 |
| 3．4．4 例子 | 第35-36页 |
| 3．5 几种求最小测试集方法的比较研究 | 第36-38页 |
| 第四章 数模混合电路故障诊断系统 | 第38-52页 |
| 4．1 数模混合电路的故障诊断系统 | 第38-40页 |
| 4．1．1 硬件系统 | 第38-39页 |
| 4．1．2 软件系统 | 第39-40页 |
| 4．2 EDA技术与故障仿真 | 第40-41页 |
| 4．3 Multisim2001软件 | 第41-42页 |
| 4．4 电路实例 | 第42-52页 |
| 4．4．1 实例:发光二极管闪光器的故障诊断 | 第42-50页 |
| 4．4．2 实验小结 | 第50-52页 |
| 第五章 NI测试平台 | 第52-62页 |
| 5．1 NI虚拟仪器技术 | 第52-54页 |
| 5．1．1 功能强大的软件是虚拟仪器的核心 | 第53页 |
| 5．1．2 模块化硬件 | 第53-54页 |
| 5．2 NI测试平台 | 第54-56页 |
| 5．2．1 系统概述 | 第54页 |
| 5．2．2 LabVIEW概述 | 第54-55页 |
| 5．2．3 NI测试原理 | 第55-56页 |
| 5．3 实际测试 | 第56-62页 |
| 5．3．1 PCI总线以及NI PCI-6509数据采集卡 | 第56-57页 |
| 5．3．2 利用NI测试平台测试电路板的主要工作 | 第57-60页 |
| 5．3．3 实验小结 | 第60-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-65页 |
| 6．1 对本文的总结 | 第62页 |
| 6．2 对未来的展望 | 第62-65页 |
| 6．2．1 对本文的后续研究工作的展望 | 第62-63页 |
| 6．2．2 对可测试性技术的展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 硕士研究生期间发表论文清单 | 第68页 |