| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-12页 |
| ·选题依据 | 第9-10页 |
| ·研究现状 | 第10-12页 |
| 第二章 激光剥蚀等离子质谱仪联用技术介绍 | 第12-26页 |
| ·概述 | 第12-13页 |
| ·等离子质谱仪仪器原理简介 | 第13-20页 |
| ·离子源：电感耦合等离子体（ICP） | 第14-16页 |
| ·ICP 与 MS 的接口(Interface) 和真空系统 | 第16-17页 |
| ·离子透镜组 | 第17-18页 |
| ·离子分离：四极杆质量分析器 | 第18-19页 |
| ·离子检测器 | 第19-20页 |
| ·进样系统 | 第20页 |
| ·激光剥蚀系统原理简介 | 第20-23页 |
| ·激光源及外部光路系统 | 第22-23页 |
| ·样品室及气路系统 | 第23页 |
| ·激光剥蚀系统与等离子体质谱仪联用技术简介 | 第23-26页 |
| 第三章 LA-ICP-MS 联用条件优化设计 | 第26-30页 |
| ·LA-ICP-MS 联用技术现状 | 第26页 |
| ·LA-ICP-MS 联用技术的设计方案 | 第26-27页 |
| ·激光剥蚀器基本实验条件优化 | 第27-28页 |
| ·激光能量 | 第27页 |
| ·激光频率 | 第27-28页 |
| ·激光剥蚀斑径 | 第28页 |
| ·载气流量 | 第28页 |
| ·ICP-MS 基本实验条件优化 | 第28-29页 |
| ·雾化气流量 | 第28页 |
| ·其他可优化参数 | 第28页 |
| ·内标元素的选择 | 第28-29页 |
| ·LA-ICP-MS 混样器皿设计 | 第29-30页 |
| 第四章 LA-ICP-MS 联用优化研究 | 第30-61页 |
| ·运用 FLUENT6.0 模拟实验过程 | 第30-37页 |
| ·Fluent 仿真模拟效果 | 第31-37页 |
| ·Fluent 仿真结论 | 第37页 |
| ·标样 NIST 610 联机应用方案 | 第37-40页 |
| ·联机实验方案设计 | 第38-40页 |
| ·具体实验操作方案 | 第40页 |
| ·标样 NIST 610 联机测试结果分析 | 第40-49页 |
| ·仪器条件认定 | 第40-41页 |
| ·质谱图观察 | 第41-47页 |
| ·测试结果分析 | 第47-49页 |
| ·标样 NIST610 和 NIST614 测试精度优化前后对比分析 | 第49-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 附录 1 new wave 193ss 原理 | 第66-67页 |
| 附录 2 Agilent 7500 仪器概貌 | 第67-68页 |
| 附录 3 ICP-MS 检测限及质量分析范围 | 第68-69页 |
| 附录 4 作者简介 | 第69页 |