LabVIEW平台下工业热电偶自动检定系统的研究
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-6页 |
目录 | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
·引言 | 第9页 |
·国内外研究的现状 | 第9-13页 |
·国外研究情况 | 第9-12页 |
·国内研究情况 | 第12-13页 |
·本文研究目的和意义 | 第13-15页 |
·本文研究方法和内容 | 第15-17页 |
第二章 热电偶自动检定的理论基础 | 第17-26页 |
·热电偶工作原理 | 第17-20页 |
·热电偶的检定与分度 | 第20-23页 |
·热电偶检定的数据处理 | 第23-26页 |
第三章 系统硬件组成与实现 | 第26-39页 |
·系统的硬件组成及工作原理 | 第26-27页 |
·热电偶检定炉 | 第27-31页 |
·热电偶检定炉的物理模型 | 第27-28页 |
·热电偶检定炉动态特性分析 | 第28-31页 |
·高精度数字万用表 | 第31-35页 |
·RS232接口 | 第31-33页 |
·数表功能简介 | 第33-35页 |
·检定测控仪 | 第35-37页 |
·工作原理 | 第35-36页 |
·DAC1210简介 | 第36-37页 |
·技术性能 | 第37页 |
·控温伺服器 | 第37-39页 |
·工作原理 | 第37-38页 |
·技术性能 | 第38-39页 |
第四章 系统软件设计 | 第39-56页 |
·软件开发平台LabVIEW简介 | 第39-41页 |
·图形化编程语言LabVIEW | 第39-40页 |
·LabVIEW的优点 | 第40-41页 |
·软件总体设计 | 第41-43页 |
·驱动程序的设计 | 第43-49页 |
·LabVIEW平台下硬件设备驱动的介绍 | 第43页 |
·电测仪表的驱动程序 | 第43-47页 |
·有关板卡的驱动程序 | 第47-49页 |
·控温及检定模块 | 第49-51页 |
·数据存储及报表打印模块 | 第51-53页 |
·系统软件的部分界面 | 第53-56页 |
第五章 检定炉温度控制方案的选取及实验 | 第56-80页 |
·PID控制方案 | 第56-62页 |
·PID控制算法剖析 | 第56-59页 |
·PID控制算法编程 | 第59-61页 |
·PID控制实验结果与分析 | 第61-62页 |
·模糊单神经元PID复合控制方案 | 第62-75页 |
·模糊控制方案 | 第63-66页 |
·模糊控制器简介 | 第63-64页 |
·模糊控制器的设计 | 第64-66页 |
·单神经元PID控制方案 | 第66-70页 |
·单神经元PID控制器概述 | 第66-67页 |
·单神经元PID的学习算法 | 第67-68页 |
·单神经元PID控制算法的稳定性 | 第68-69页 |
·单神经元PID控制器的参数选择 | 第69-70页 |
·模糊单神经元PID复合控制方案 | 第70-71页 |
·模糊单神经元PID控制算法编程 | 第71-74页 |
·模糊单神经元PID复合控制实验结果与分析 | 第74-75页 |
·系统运行的实验结果及分析 | 第75-80页 |
·实验步骤 | 第75-76页 |
·实验数据及分析 | 第76-80页 |
第六章 总结与展望 | 第80-83页 |
参考文献 | 第83-86页 |
附录: 发表论文情况 | 第86-87页 |
致谢 | 第87页 |