| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-10页 |
| 1 绪 论 | 第10-14页 |
| ·课题的背景、来源和意义 | 第10-12页 |
| ·课题的背景 | 第10-11页 |
| ·课题的来源 | 第11页 |
| ·课题的意义 | 第11-12页 |
| ·本文的主要内容和研究条件 | 第12-14页 |
| ·本文的主要内容 | 第12页 |
| ·研究条件 | 第12-14页 |
| 2 STM的概述 | 第14-21页 |
| ·引言 | 第14页 |
| ·国内外STM的发展概况及其研究意义 | 第14-16页 |
| ·STM的独特优点 | 第16-17页 |
| ·STM的局限性 | 第17页 |
| ·STM的主要应用领域 | 第17-20页 |
| ·STM在微观表面形貌检测中的应用 | 第17-18页 |
| ·STM在生命科学中的应用 | 第18-19页 |
| ·STM在纳米制造领域中的应用 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 3 扫描隧道显微技术的理论基础 | 第21-31页 |
| ·引言 | 第21页 |
| ·扫描隧道显微镜的工作原理 | 第21页 |
| ·电子隧道效应现象 | 第21-26页 |
| ·隧道电流理论 | 第26-29页 |
| ·样品表面波函数和扫描探针波函数模型的建立 | 第26-28页 |
| ·隧道电流 | 第28-29页 |
| ·STM用于表面形貌检测的工作模式 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 4 STM IPC-205B型机的关键技术及其实现 | 第31-53页 |
| ·前言 | 第31页 |
| ·镜体 | 第31-37页 |
| ·镜体的组成及其主要参数 | 第31-32页 |
| ·镜体的主要功能 | 第32页 |
| ·镜体的工作原理 | 第32-35页 |
| ·镜体的特点 | 第35页 |
| ·振动隔绝系统 | 第35-36页 |
| ·镜体的精度分析 | 第36-37页 |
| ·扫描系统 | 第37-40页 |
| ·扫描器件--压电陶瓷 | 第37-38页 |
| ·扫描电路 | 第38-40页 |
| ·扫描系统的计时部分 | 第40页 |
| ·数据采集系统 | 第40-46页 |
| ·前置放大器 | 第42页 |
| ·对数放大器 | 第42-43页 |
| ·比例放大器 | 第43-44页 |
| ·比较电路 | 第44页 |
| ·低通与高通滤波器 | 第44-46页 |
| ·计算机工作站 | 第46页 |
| ·探针的制备 | 第46-49页 |
| ·探针制备的重要性 | 第46-47页 |
| ·探针材料 | 第47-48页 |
| ·探针制备的主要方法 | 第48页 |
| ·STM IPC-205B型机探针的制备 | 第48-49页 |
| ·探针的检测 | 第49页 |
| ·STM IPC-205B型机中三维图象的重建和处理 | 第49-51页 |
| ·图象的文件格式及类型 | 第49-50页 |
| ·图象的数字化 | 第50页 |
| ·二维灰阶图的处理 | 第50页 |
| ·三维立体图象的重建和处理 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 5 STM IPC-205B型机的应用 | 第53-60页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·扫描隧道谱的应用--对碳酸钙表面隧道谱及其形貌的观察 | 第53-55页 |
| ·隧道谱的概念 | 第53页 |
| ·实验方式 | 第53-54页 |
| ·碳酸钙表面隧道谱及其晶体形貌的观察 | 第54-55页 |
| ·仪器的分辨率和性能分析--对石墨表面的观察 | 第55页 |
| ·纳米材料领域的应用--对氧化锌晶须和镍晶体形貌的观察 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-60页 |
| 6 全文总结 | 第60-61页 |
| 致 谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 附 录 | 第65-66页 |
