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基于快速标定方法的三维物体表面轮廓测量系统的研究

第一章 绪论第1-14页
 1.1 三维物体表面轮廓测量方法第8-12页
  1.1.1 传统的三坐标测量方法第8-9页
  1.1.2 计算机视觉测量方法第9-12页
   1.1.2.1 莫尔拓扑法第9-10页
   1.1.2.2 结构光测量法第10-11页
   1.1.2.3 相位测量法第11-12页
 1.2 本课题研究的内容第12-14页
第二章 相位法测量原理研究第14-30页
 2.1 相位法测量系统的基本构成第14页
 2.2 相位法基本原理第14-17页
 2.3 相位的求解第17-20页
  2.3.1 FTP法相位求解第17-18页
  2.3.2 相移法相位求解第18-19页
  2.3.3 卷积解调法相位求解第19-20页
 2.4 FTP法三维物体表面轮廓测量过程分析第20-25页
  2.4.1 参考光栅和变形光栅的生成第21-22页
  2.4.2 一维离散傅立叶变换第22-23页
  2.4.3 频域滤波及傅立叶逆变换第23-24页
  2.4.4 相位差及高度求解第24-25页
 2.5 相位法在三维物体表面轮廓测量中容易出现的问题第25-29页
  2.5.1 时域信号截取所引起的问题第25-26页
  2.5.2 阴影引起的问题第26-27页
  2.5.3 使用Ronchi光栅时所需注意的问题第27-28页
  2.5.4 频域滤波窗口的影响第28-29页
 2.6 本章小结第29-30页
第三章 系统标定方法的研究第30-45页
 3.1 系统结构分析第30-34页
  3.1.1 光心连线与参考平面平行,摄像机光轴与投影仪光轴平行第31-32页
  3.1.2 光心连线与参考平面平行,摄像机光轴与投影仪光轴相交第32页
  3.1.3 光心连线与参考平面不平行,摄像机光轴与投影仪光轴平行第32-33页
  3.1.4 光心连线与参考平面不平行,摄像机光轴与投影仪光轴相交第33-34页
 3.2 系统标定第34-44页
  3.2.1 高度标定第34-36页
  3.2.2 (X,Y)标定第36-44页
   3.2.2.1 小孔成像模型及透视变换矩阵第37-39页
   3.2.2.2 被测物体高度较小时的标定方法第39页
   3.2.2.3 立体标定第39-44页
 3.3 系统标定方法小结第44-45页
第四章 解相方法的研究第45-55页
 4.1 解相的基本原理第45-46页
 4.2 传统解相方法第46-48页
  4.2.1 相位跟踪解相算法第47页
  4.2.2 自适应阈值解相法第47-48页
 4.3 逐点增长解相法第48-50页
 4.4 沿高度解相方法的研究第50-54页
 4.5 解相方法小结第54-55页
第五章 系统设计与开发第55-69页
 5.1 系统硬件设备的选择第55-58页
  5.1.1 CCD摄像机的工作原理与选择第55-56页
  5.1.2 图象采集卡的工作原理与选择第56-58页
 5.2 测量系统硬件设计第58-59页
 5.3 测量系统软件设计第59-69页
  5.3.1 编程语言的选择第59-60页
  5.3.2 测量系统软件概述第60-67页
   5.3.2.1 系统标定第61-65页
   5.3.2.2 测量物体类型选择第65页
   5.3.2.3 测量方法选择第65页
   5.3.2.4 模板图象的采集和处理第65-66页
   5.3.2.5 高度求取第66页
   5.3.2.6 测量数据可视化第66-67页
   5.3.2.7 高度查询第67页
  5.3.3 边缘提取第67-69页
第六章 试验数据与误差分析第69-80页
 6.1 高度测量实验数据第69-77页
  6.1.1 平面物体高度测量,标定精度验证实验第69-74页
  6.1.2 高度连续变化物体测量,(X,Y)标定验证实验第74-77页
 6.2 误差原因分析第77-80页
  6.2.1 光学成像误差第77-78页
  6.2.2 标定误差第78页
  6.2.3 计算方法误差第78-80页
第七章 相位法在大场景测量中的应用第80-88页
 7.1 大场景测量范围第80-81页
 7.2 投影距离对投影光栅频谱的影响第81-83页
 7.3 大场景测量装置及标定第83-84页
 7.4 大场景测量实例第84-88页
结论第88-89页
致谢第89-90页
参考文献第90-95页

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