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微波功率SiGe HBT与基于虚衬底的SiGe HPT的研制

摘要第1-6页
Abstract第6-14页
第一章 绪论第14-30页
   ·SiGe HBT与HPT研究背景第14-15页
   ·SiGe HBT研究进展与存在的问题第15-19页
   ·SiGe HPT研究进展与存在的问题第19-21页
   ·本论文的工作和构架第21-23页
 参考文献第23-30页
第二章 双生长室UHV/CVD系统与SiGe材料生长第30-44页
   ·双生长室UHV/CVD系统第30-32页
   ·SiGe材料生长第32-41页
     ·SiGe单层与Si/SiGe多量子阱生长第32-36页
     ·源流量比与Ge组分的关系第36页
     ·Si/SiGe材料p型和n型原位掺杂第36-40页
     ·SiGe HBT结构材料试生长第40-41页
   ·本章小结第41-42页
 参考文献第42-44页
第三章 微波功率SiGe HBT原理与设计第44-58页
   ·SiGe HBT工作原理第44-47页
   ·微波功率SiGe HBT设计第47-52页
     ·纵向结构设计第47-49页
     ·横向结构设计第49-52页
   ·SiGeHBT频率理论预测第52-54页
     ·特征频率f_T第52-53页
     ·最大振荡频率f_(max)第53-54页
 本章小结第54-55页
 参考文献第55-58页
第四章 微波功率SiGe HBT制备与特性第58-80页
   ·微波功率SiGe HBT结构材料制备第58-60页
   ·微波功率SiGe HBT制备工艺第60-63页
   ·微波功率SiGe HBT基本特性第63-68页
   ·不同发射极指数SiGe HBT特性分析第68-72页
     ·SiGe HBT Gummel图第69-70页
     ·基极为电流输入时SiGe HBT Ⅰ-Ⅴ特性第70-71页
     ·基极为电压输入时SiGe HBT Ⅰ-Ⅴ特性第71-72页
   ·SiGe HBT自加热特性自补偿方法第72-74页
   ·Ge组分对SiGe HBT性能的影响第74-77页
   ·本章小结第77-78页
 参考文献第78-80页
第五章 基于虚衬底的SiGe HPT理论模拟第80-104页
   ·SiGe HPT工作原理第80-82页
   ·基于虚衬底的SiGe HPT模拟第82-98页
     ·SiGe HPT数值分析模型第82-88页
     ·SiGe材料参数模型第88-91页
     ·SiGe HPT模拟结果分析第91-98页
   ·本章小结第98-99页
 参考文献第99-104页
第六章 基于虚衬底的SiGe HPT材料制备第104-138页
   ·氧化法制备SiGe弛豫衬底第104-119页
     ·制备原理第104-105页
     ·Si基SiGe弛豫衬底制备第105-107页
     ·SOI基SiGe弛豫衬底制备第107-111页
     ·SiGe氧化动力学第111-119页
   ·低温Ge缓冲层法外延SiGe弛豫衬底第119-121页
   ·SiGe弛豫衬底表面热处理第121-128页
     ·SiGe弛豫衬底高温脱氧第121-125页
     ·SiGe弛豫衬底高温脱氢第125-128页
   ·基于虚衬底的SiGe HPT结构材料外延与表征第128-131页
     ·SiGe HPT结构材料外延第128-129页
     ·SiGe HPT材料表征第129-131页
   ·本章小结第131-133页
 参考文献第133-138页
第七章 基于虚衬底的SiGe HPT制备与特性第138-146页
   ·SiGe HPT版图设计第138-139页
   ·SiGe HPT制备工艺第139页
   ·基于虚衬底的SiGe HPT特性第139-144页
     ·SiGe HPT光谱响应第139-141页
     ·SiGe HPT击穿电压第141-142页
     ·SiGe HPT暗电流第142页
     ·SiGe HPT响应度第142-144页
   ·本章小结第144-145页
 参考文献第145-146页
第八章 总结与展望第146-148页
附录 博士期间论文发表、专利申请及获奖情况第148-151页
致谢第151页

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