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金—酞菁铜界面附近剂量分布和中子元素分析中γ射线屏蔽的蒙卡模拟

内容提要第1-7页
第1章 引言第7-14页
   ·研究背景与意义第7-10页
   ·国内外的研究现状第10-12页
   ·立题依据第12页
   ·本研究工作第12-13页
   ·中子元素分析中干扰γ射线的屏蔽第13-14页
第2章 γ(X)射线与物质相互作用的机制第14-22页
   ·光电效应第14-18页
     ·光电子的能量第15-16页
     ·光电截面第16-17页
     ·光电子的角分布第17-18页
   ·康普顿效应第18-20页
   ·电子对效应第20-22页
第3章 剂量增强基本原理第22-25页
   ·剂量增强效应的引发机制第22-23页
   ·器件的剂量增强效应第23页
   ·剂量增强系数DEF第23-25页
第4章 蒙特卡罗(Monte Carlo)方法第25-33页
   ·蒙特卡罗方法简介第25页
   ·粒子输运问题第25-26页
   ·MCNP基础第26-27页
   ·MCNP解光子在介质中的输运问题第27-28页
     ·简单的物理处理过程第27-28页
     ·详细的物理处理过程第28页
   ·MCNP误差的估计第28-29页
   ·MCNP效率因素第29-30页
   ·减小方差的技巧第30-31页
   ·MCNP 程序运行结构第31-33页
第5章 模型建立和模拟计算第33-37页
   ·问题的提出第33页
   ·物理几何模型的建立第33-35页
   ·模拟计算第35-37页
第6章 数据处理及分析第37-47页
   ·Au-Si结构的剂量增强效应第37-39页
   ·不同厚度的金在Au-CuPc界面附近的剂量增强效应第39-42页
   ·X射线不同方向入射界面产生剂量增强的研究第42-43页
   ·中子元素分析中干扰γ射线的屏蔽第43-47页
结论第47-48页
参考文献第48-49页
附录第49-53页
致谢第53-54页
摘要第54-56页
Abstract第56-57页

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