| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·射频识别概述 | 第7页 |
| ·射频识别技术的工作频段与主要应用 | 第7-9页 |
| ·射频识别技术的历史、现状与发展前景 | 第9-11页 |
| ·射频识别技术的发展所面临的挑战 | 第11-13页 |
| 第二章 RFID 的工作原理与协议介绍 | 第13-27页 |
| ·RFID 系统的组成与工作原理 | 第13-17页 |
| ·RFID 系统的组成 | 第13-15页 |
| ·RFID 的工作原理 | 第15-17页 |
| ·UHF RFID 标准简介 | 第17-19页 |
| ·ISO/IEC 18000-6 Type C 标准简介 | 第19-22页 |
| ·读卡器与标签之间的数据交换过程 | 第19-22页 |
| ·防冲突机制 | 第22页 |
| ·RFID 标签的系统组成 | 第22-27页 |
| 第三章 RFID 标签数字电路的布局布线 | 第27-57页 |
| ·数据准备(Data Prepare) | 第29-31页 |
| ·设计导入(Design Setup) | 第31-32页 |
| ·布局(Floorplan) | 第32-38页 |
| ·布局规划 | 第32-34页 |
| ·电源规划 | 第34-38页 |
| ·时序约束设置(Timing Setup) | 第38-41页 |
| ·摆放(Placement) | 第41-43页 |
| ·时钟树综合(CTS) | 第43-48页 |
| ·时钟树综合简介 | 第43-46页 |
| ·RFID 标签数字部分的时钟树综合 | 第46-48页 |
| ·布线(Route) | 第48-50页 |
| ·Design For Manufacturing(DFM) | 第50-53页 |
| ·考虑串扰因素下的布局布线 | 第53-57页 |
| ·串扰的定义及影响 | 第53-55页 |
| ·串扰问题的解决 | 第55-57页 |
| 第四章 寄生参数抽取与验证 | 第57-69页 |
| ·寄生参数抽取与静态时序分析 | 第57-64页 |
| ·基于Star-RCXT 的寄生参数抽取 | 第57-60页 |
| ·静态时序分析(STA) | 第60-64页 |
| ·形式验证 | 第64-67页 |
| ·版图物理验证 | 第67-69页 |
| 第五章 后仿真及测试结果 | 第69-76页 |
| ·RFID 标签数字电路的布局布线后仿真 | 第69-71页 |
| ·0.35um CMOS 工艺下的 RFID 标签数字电路布局布线后仿真 | 第69-70页 |
| ·0.18um CMOS 工艺下的 RFID 标签数字电路布局布线后仿真 | 第70-71页 |
| ·RFID 标签的测试 | 第71-76页 |
| 第六章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-80页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81页 |
