晶闸管不稳定运行及分岔混沌现象产生机理研究
| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-20页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·电力电子器件分岔及混沌研究现状 | 第13-17页 |
| ·分岔及混沌行为 | 第13-16页 |
| ·混沌控制 | 第16-17页 |
| ·课题研究的意义与创新性 | 第17页 |
| ·论文主要内容的安排 | 第17-18页 |
| ·本课题来源 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第二章 半导体导电机理和晶闸管模型 | 第20-33页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·半导体导电机理 | 第20-27页 |
| ·电子和空穴 | 第20-21页 |
| ·能带结构 | 第21-24页 |
| ·电流连续方程 | 第24-26页 |
| ·电导率 | 第26-27页 |
| ·泊松方程 | 第27页 |
| ·负微分电导率的物理机制 | 第27-28页 |
| ·非线性平均迁移速度 | 第27-28页 |
| ·载流子密度为电场的非线性函数 | 第28页 |
| ·晶闸管模型 | 第28-32页 |
| ·双晶体管模型 | 第28-29页 |
| ·宏模型 | 第29-31页 |
| ·导电模型 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 基于双晶体管模型的晶闸管分岔及混沌分析 | 第33-47页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·晶闸管分析电路的双晶体管模型及参数 | 第33-35页 |
| ·晶闸管分岔及混沌现象 | 第35-44页 |
| ·不同运行条件下的分岔及混沌现象 | 第35-38页 |
| ·实验验证 | 第38-44页 |
| ·分岔及混沌产生机理分析 | 第44-46页 |
| ·电源频率变化 | 第44-46页 |
| ·门极电压变化 | 第46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 基于时空动力学模型的晶闸管分岔及混沌分析 | 第47-65页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·晶闸管时空动力学模型 | 第47-49页 |
| ·动力系统稳定性理论 | 第49-54页 |
| ·晶闸管时空动力系统稳定性分析 | 第54-57页 |
| ·稳定状态 | 第54-56页 |
| ·不稳定状态 | 第56-57页 |
| ·晶闸管分岔及混沌现象 | 第57-62页 |
| ·实验验证 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 晶闸管并联电路的分岔和混沌现象分析 | 第65-79页 |
| ·引言 | 第65页 |
| ·晶闸管并联电路时空动力学模型 | 第65-67页 |
| ·分岔及混沌分析 | 第67-73页 |
| ·分岔及混沌行为的影响 | 第73-78页 |
| ·对晶闸管的影响 | 第73-74页 |
| ·对并联电路均流特性的影响 | 第74-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 晶闸管分岔及混沌行为的延迟反馈驱动控制 | 第79-95页 |
| ·引言 | 第79页 |
| ·混沌控制基本理论 | 第79-82页 |
| ·ETDFC 法 | 第80-82页 |
| ·相空间压缩法 | 第82页 |
| ·晶闸管混沌行为的延迟反馈驱动控制 | 第82-86页 |
| ·线性化模型 | 第82-84页 |
| ·Floquet 定理 | 第84-86页 |
| ·控制稳定性 | 第86页 |
| ·ETDFC 控制特性分析 | 第86-92页 |
| ·控制参数优化 | 第86-87页 |
| ·控制效果 | 第87-92页 |
| ·基于相空间压缩的改进ETDFC 驱动控制 | 第92-94页 |
| ·基本思想 | 第92页 |
| ·控制效果 | 第92-94页 |
| ·本章小结 | 第94-95页 |
| 结论 | 第95-97页 |
| 1 本文所做的主要工作 | 第95-96页 |
| 2 对进一步研究的展望 | 第96-97页 |
| 参考文献 | 第97-107页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第107-108页 |
| 致谢 | 第108页 |
