基于面阵CCD的颗粒物料缺陷检测系统
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题背景及国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·课题背景概述及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状概述 | 第11-13页 |
| ·本文主要内容 | 第13-15页 |
| 第2章 基于CCD 的检测系统搭建 | 第15-27页 |
| ·系统总体结构描述 | 第15-16页 |
| ·CCD 器件介绍 | 第16-17页 |
| ·CCD 的选择和设定 | 第17-19页 |
| ·物料与镜头垂直距离的设定 | 第19-20页 |
| ·光学系统设计 | 第20-22页 |
| ·光源的设计 | 第20-21页 |
| ·光源照明方式选择 | 第21-22页 |
| ·背景板选择 | 第22页 |
| ·外触发驱动电路设计 | 第22-25页 |
| ·数据传输 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 缺陷检测算法研究 | 第27-48页 |
| ·目标图像分析 | 第27-29页 |
| ·缺陷图像算法处理设计流程 | 第29页 |
| ·缺陷图像预处理算法 | 第29-30页 |
| ·图像二值化处理中的阈值分割 | 第30-34页 |
| ·大津阈值分割法 | 第31-32页 |
| ·Kittler 阈值分割算法 | 第32-33页 |
| ·基于目标图像统计的背景均值算法 | 第33-34页 |
| ·二值图像的形态学处理 | 第34-38页 |
| ·腐蚀和膨胀 | 第34-37页 |
| ·开运算和闭运算 | 第37-38页 |
| ·缺陷判别算法设计 | 第38-43页 |
| ·算法设计原理及流程 | 第38-40页 |
| ·八邻域连通检测原理及判据 | 第40-41页 |
| ·算法运行结果 | 第41-42页 |
| ·算法准确性试验 | 第42-43页 |
| ·颜色识别算法 | 第43-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 系统软件实现 | 第48-51页 |
| ·软件设计基本思想 | 第48-49页 |
| ·像机控制软件 | 第48页 |
| ·图像处理部分 | 第48-49页 |
| ·系统运行界面及功能简介 | 第49-50页 |
| ·图像处理软件结果 | 第50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 结论 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-56页 |
| 致谢 | 第56页 |
