| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第16-37页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第16-17页 |
| 1.2 聚酰亚胺纳米复合材料研究现状 | 第17-25页 |
| 1.2.1 聚酰亚胺复合材料简介 | 第17-19页 |
| 1.2.2 聚酰亚胺复合薄膜耐电晕机理研究进展 | 第19-22页 |
| 1.2.3 聚酰亚胺复合薄膜导热性能研究进展 | 第22-25页 |
| 1.3 填料在聚合物中诱导取向的研究现状 | 第25-28页 |
| 1.3.1 力场诱导填料在聚合物中的取向 | 第25页 |
| 1.3.2 磁场诱导填料在聚合物中的取向 | 第25-26页 |
| 1.3.3 电场诱导填料在聚合物中的取向 | 第26-27页 |
| 1.3.4 填料取向对聚合物热学性能的影响机理 | 第27-28页 |
| 1.4 纳米电介质微观结构与性能研究进展 | 第28-35页 |
| 1.4.1 界面微观特性研究现状 | 第28-31页 |
| 1.4.2 小角X射线散射研究复合材料界面结构 | 第31-32页 |
| 1.4.3 原子力显微镜研究复合材料表面电位 | 第32-33页 |
| 1.4.4 电声脉冲法研究复合材料空间电荷分布 | 第33-34页 |
| 1.4.5 热激电流法研究复合材料陷阱能级特性 | 第34-35页 |
| 1.5 论文主要研究内容 | 第35-37页 |
| 第2章 实验方法与样品制备 | 第37-44页 |
| 2.1 实验材料与仪器 | 第37-40页 |
| 2.1.1 实验材料 | 第37-38页 |
| 2.1.2 实验仪器 | 第38页 |
| 2.1.3 薄膜制备基本流程 | 第38-40页 |
| 2.2 结构表征 | 第40-41页 |
| 2.2.1 XRD测试 | 第40页 |
| 2.2.2 ZETA电位测试 | 第40页 |
| 2.2.3 TEM测试 | 第40页 |
| 2.2.4 SEM测试 | 第40页 |
| 2.2.5 SAXS测试 | 第40-41页 |
| 2.2.6 FTIR测试 | 第41页 |
| 2.3 性能测试 | 第41-42页 |
| 2.3.1 介电性能测试 | 第41页 |
| 2.3.2 耐电晕老化性能测试 | 第41-42页 |
| 2.3.3 交流击穿场强测试 | 第42页 |
| 2.3.4 热学性能测试 | 第42页 |
| 2.4 耐电晕机理分析测试 | 第42-43页 |
| 2.4.1 表面电势和表面电位分布测试 | 第42页 |
| 2.4.2 空间电荷分布测试 | 第42页 |
| 2.4.3 热激电流特性测试 | 第42-43页 |
| 2.4.4 电导电流特性测试 | 第43页 |
| 2.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第3章 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3微结构和电学及热学性能 | 第44-64页 |
| 3.1 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3结构表征 | 第44-50页 |
| 3.1.1 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3物相结构表征 | 第44-45页 |
| 3.1.2 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3微观结构TEM表征 | 第45-48页 |
| 3.1.3 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3微观结构SAXS表征 | 第48-50页 |
| 3.2 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3电学性能 | 第50-58页 |
| 3.2.1 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3介电性能 | 第50-52页 |
| 3.2.2 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3耐电晕老化性能 | 第52-57页 |
| 3.2.3 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3交流击穿性能 | 第57-58页 |
| 3.3 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3热学性能 | 第58-60页 |
| 3.3.1 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3热稳定性能 | 第59页 |
| 3.3.2 PI/SiO_2和PI/Al_2O_3导热性能 | 第59-60页 |
| 3.4 SiO_2和Al_2O_3表面电荷对薄膜微结构和电学性能的影响 | 第60-62页 |
| 3.5 本章小结 | 第62-64页 |
| 第4章 PI/BN微结构和电学及热学性能 | 第64-75页 |
| 4.1 PI/BN取向复合薄膜制备流程 | 第64-66页 |
| 4.2 PI/BN结构表征 | 第66-68页 |
| 4.2.1 PI/BN物相结构表征 | 第66页 |
| 4.2.2 PI/BN微观结构表征 | 第66-68页 |
| 4.3 PI/BN电学性能 | 第68-72页 |
| 4.3.1 PI/BN介电性能 | 第68-69页 |
| 4.3.2 PI/BN耐电晕老化性能 | 第69-71页 |
| 4.3.3 PI/BN交流击穿性能 | 第71-72页 |
| 4.4 PI/BN热学性能 | 第72-73页 |
| 4.4.1 PI/BN热稳定性能 | 第72-73页 |
| 4.4.2 PI/BN导热性能 | 第73页 |
| 4.5 本章小结 | 第73-75页 |
| 第5章 PI/BN+Al_2O_3微结构和电学及热学性能 | 第75-89页 |
| 5.1 PI/BN+Al_2O_3制备流程 | 第75-76页 |
| 5.2 PI/BN+Al_2O_3结构表征 | 第76-78页 |
| 5.2.1 PI/BN+Al_2O_3物相结构表征 | 第76-77页 |
| 5.2.2 PI/BN+Al_2O_3微观结构表征 | 第77-78页 |
| 5.3 PI/BN+Al_2O_3电学性能 | 第78-85页 |
| 5.3.1 PI/BN+Al_2O_3介电性能 | 第78-81页 |
| 5.3.2 PI/BN+Al_2O_3耐电晕老化性能 | 第81-83页 |
| 5.3.3 PI/BN+Al_2O_3交流击穿性能 | 第83-85页 |
| 5.4 PI/BN+Al_2O_3热学性能 | 第85-87页 |
| 5.4.1 PI/BN+Al_2O_3热稳定性能 | 第85页 |
| 5.4.2 PI/BN+Al_2O_3导热性能 | 第85-87页 |
| 5.5 本章小结 | 第87-89页 |
| 第6章 PI/BN+Al_2O_3微观耐电晕机理的研究 | 第89-110页 |
| 6.1 PI/BN+Al_2O_3表面电位 | 第89-94页 |
| 6.2 PI/BN+Al_2O_3空间电荷 | 第94-97页 |
| 6.3 PI/BN+Al_2O_3陷阱能级 | 第97-103页 |
| 6.4 PI/BN+Al_2O_3电导电流 | 第103-105页 |
| 6.5 耐电晕老化模型 | 第105-108页 |
| 6.6 小结 | 第108-110页 |
| 结论 | 第110-113页 |
| 参考文献 | 第113-125页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第125-126页 |
| 致谢 | 第126页 |
