基于数字图像处理的薄膜涂层缺陷检测软件设计与实现
摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状及分析 | 第11-12页 |
1.3 薄膜涂层缺陷检测系统软件开发工具简介 | 第12-13页 |
1.4 论文主要研究内容 | 第13-14页 |
1.5 论文结构 | 第14-16页 |
第2章 需求分析与总体设计 | 第16-23页 |
2.1 薄膜涂层缺陷的主要类型与特征 | 第16-17页 |
2.1.1 薄膜涂层缺陷的主要类型 | 第16页 |
2.1.2 薄膜涂层缺陷的主要特征 | 第16-17页 |
2.2 薄膜涂层缺陷检测的相关技术简介 | 第17-18页 |
2.3 需求分析及可行性分析 | 第18-19页 |
2.4 系统总体设计 | 第19-22页 |
2.4.1 系统下位机的设计 | 第20-21页 |
2.4.2 系统上位机的设计 | 第21-22页 |
2.5 本章小结 | 第22-23页 |
第3章 下位机软件的详细设计与实现 | 第23-29页 |
3.1 下位机软件功能及详细设计思路 | 第23-24页 |
3.2 薄膜涂层缺陷图片及文件夹的命名规则 | 第24-25页 |
3.2.1 缺陷图片命名规则 | 第24页 |
3.2.2 缺陷图片文件夹命名规则 | 第24-25页 |
3.3 模拟下位机共享配置文件 | 第25-26页 |
3.4 模拟下位机功能及其实现方式 | 第26-28页 |
3.4.1 网络通讯功能及其实现方式 | 第26-27页 |
3.4.2 模拟下位机图片采集功能及其实现方式 | 第27-28页 |
3.5 本章小结 | 第28-29页 |
第4章 上位机软件的详细设计与实现 | 第29-63页 |
4.1 底层基本类的设计与封装 | 第29-39页 |
4.1.1 图像处理类 | 第29-32页 |
4.1.2 数据库基本类 | 第32-33页 |
4.1.3 数据处理类 | 第33-36页 |
4.1.4 容器处理类 | 第36-39页 |
4.2 窗体类的设计及其功能的具体实现 | 第39-47页 |
4.2.1 界面概述 | 第39页 |
4.2.2 登录与注册界面设计及其功能的实现 | 第39-41页 |
4.2.3 映射网络驱动器设计及其功能的实现 | 第41-43页 |
4.2.4 主界面设计及其功能的实现 | 第43页 |
4.2.5 图片测试界面及其功能的实现 | 第43-45页 |
4.2.6 参数配置界面及其功能的实现 | 第45页 |
4.2.7 历史查询界面及其功能的实现 | 第45-47页 |
4.3 图像预处理 | 第47-50页 |
4.3.1 图像去噪 | 第48-50页 |
4.3.2 预处理灰度值补偿 | 第50页 |
4.4 图像处理与缺陷检测 | 第50-56页 |
4.4.1 有效区域检测 | 第50-52页 |
4.4.2 二值化 | 第52-53页 |
4.4.3 检测连通域 | 第53-55页 |
4.4.4 缺陷检测 | 第55-56页 |
4.5 缺陷检测线程功能的实现 | 第56-58页 |
4.5.1 自定义windows消息的实现 | 第56-58页 |
4.5.2 缺陷检测线程实现过程 | 第58页 |
4.6 在线实时处理功能的实现 | 第58-60页 |
4.7 遇到的问题与解决方法 | 第60-62页 |
4.7.1 实时检测中标记无缺陷位置 | 第60页 |
4.7.2 邻近区域合并 | 第60-62页 |
4.8 本章小结 | 第62-63页 |
第5章 系统测试 | 第63-67页 |
5.1 离线检测功能测试 | 第63-64页 |
5.2 在线实时检测功能测试 | 第64-65页 |
5.3 图像处理算法速度测试 | 第65-66页 |
5.4 本章小结 | 第66-67页 |
结论 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-74页 |
致谢 | 第74页 |