| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景及其研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 GIS局部放电带电检测技术研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.2 局部放电缺陷及其严重程度评估研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.3 设备带电检测技术有效性与仪器校验技术研究现状 | 第13页 |
| 1.3 本文研究主要内容 | 第13-15页 |
| 第2章 GIS局部放电带电检测技术原理及应用情况分析 | 第15-19页 |
| 2.1 特高频法局部放电检测技术原理及分析 | 第15-17页 |
| 2.1.1 应用分析 | 第15-16页 |
| 2.1.2 特高频局部放电检测理论基础 | 第16-17页 |
| 2.2 超声波法局部放电检测技术原理及分析 | 第17-18页 |
| 2.2.1 超声波法局部放电检测技术原理 | 第17页 |
| 2.2.2 超声波法检测技术主要问题及不足 | 第17-18页 |
| 2.3 本章小结 | 第18-19页 |
| 第3章 GIS局部放电带电检测仪器校验技术研究及系统开发 | 第19-31页 |
| 3.1 带电检测仪器校验装置系统原理 | 第19-21页 |
| 3.1.1 超声波信号产生单元原理 | 第19-20页 |
| 3.1.2 特高频信号产生单元原理 | 第20-21页 |
| 3.1.3 超声传感器、特高频传感器校验单元原理 | 第21页 |
| 3.2 校验装置系统组成 | 第21-23页 |
| 3.2.1 系统硬件组成 | 第21-22页 |
| 3.2.2 系统软件组成 | 第22-23页 |
| 3.3 校验系统功能模块设计 | 第23-29页 |
| 3.3.1 典型放电模型单元设计 | 第23页 |
| 3.3.2 超声波传感器校验单元设计 | 第23-26页 |
| 3.3.3 特高频传感器校验单元设计 | 第26-28页 |
| 3.3.4 校验系统软件设计 | 第28-29页 |
| 3.4 传感器校验判断依据及合格标准 | 第29-30页 |
| 3.4.1 超声波传感器校验 | 第29-30页 |
| 3.4.2 特高频传感器校验 | 第30页 |
| 3.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第4章 GIS设备局部放电带电检测技术有效性试验研究 | 第31-49页 |
| 4.1 GIS典型局部放电缺陷模型研制 | 第31-33页 |
| 4.2 GIS局部放电试验平台 | 第33-34页 |
| 4.3 GIS局部放电带电检测有效性试验实例分析 | 第34-48页 |
| 4.3.1 绝缘子表面固定金属颗粒 | 第34-42页 |
| 4.3.2 高压导体尖刺放电 | 第42-48页 |
| 4.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第5章 总结与展望 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |
| 致谢 | 第53页 |
